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ギワックスス は、薄膜サンプルの内部微細構造を特徴付ける技術です。対応する構造サイズは 10nm ~ 1um であるため、太陽電池薄膜セル内部の結晶化を特徴付けるために広く使用されています。
HRXRDは強力な非破壊検査法であり、主に単結晶材料、単結晶エピタキシャル薄膜材料、各種低次元半導体ヘテロ構造を研究対象としています。
X線イメージング技術の発展において、X線イメージング技術は比較的完全なX線非破壊検査技術システムを形成しました。ニーズに応えるため、常に新しい検出技術を革新しており、X線オンライン検出技術を採用しています。
ヨーロッパの XFEL X 線レーザーでは、研究者らはスカンジウムを使用して、3,000 億年に 1 秒の精度を持つ、より正確なパルス発生器を作成しました。これは、セシウムに基づく現在の標準原子時計よりも約 1,000 倍正確です。
出力条件は、ターゲット物質としての X 線管と焦点のタイプによって異なります。銅 ターゲットは回折に広く使用されていますが、鉄ベースの材料は強い蛍光を発するため、残留オーステナイト分析に 銅 ターゲットを使用することはお勧めできません。
「アスベスト」としても知られるアスベストは、高い引張強度、高い柔軟性、化学的および熱的侵食に対する耐性、電気絶縁性、および紡糸性を備えたケイ酸塩鉱物製品を指します。最も一般的な 3 つのタイプは、クリソタイル、鉄、シアナイトです。
韓国の成均館大学は、ナノNa5Ti3F14/カーボンナノ複合材がナトリウムイオン電池の負極として優れた電気化学的特性を有することを実証した。
医薬品開発の過程では、薬物結晶粉末の特性と構造が有効性と安全性において重要な役割を果たします。X 線回折 (XRD) 技術の応用は強力なツールを提供します。