バックグラウンド

X線回折 アプリケーション - 材料の特性評価

2024-05-22 10:20

材料評価技術は、材料の化学組成、内部構造、微細構造、結晶欠陥および材料特性の評価方法、試験技術および実験科学の関連理論的基礎に関するものであり、現代の材料科学研究および材料の重要な手段および方法です。応用。

X-ray Diffraction

ナノ粉末材料を例として、一般的に使用される特性評価手法を次の図に示します。

diffraction

XRDはの略ですX線回折(X線回折)。 X線回折やその分析により、物質の組成、物質内部の原子や分子の構造や形態などの情報を得る研究方法です。回折パターン。

X-ray Diffraction

最新の価格を取得しますか? できるだけ早く返信します(12時間以内)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required