X線回折は、結晶中でのX線の回折現象を利用して物質の相や結晶構造を研究する方法です。X線回折装置X線回折技術を実現するための機器の一種で、主にX線源、サンプルおよびサンプル位置配向調整機構システム、X線検出器、回折パターン処理および分析システムで構成されています。

科学研究では、X線回折材料の構造と相を特徴付けるだけではありません。実際、X線回折 パターンには、合成材料の空間群、結合長、粒子サイズ、格子応力などの結晶学的情報も含まれています。&注意;

X線回折改良により、構造解析の正しさを検証できます。結晶材料中の元素が置換または部分的に置換された場合、同形構造を利用して精製を行い、置換材料の結晶構造を取得することもできます。&注意;

XRD構造精密化解析は、単一hkl散乱量を総散乱量に置き換え、数学モデルを使用して実験データに適合させ、各相の散乱量を分離し、定量的な相解析を実現します。フィッティング プロセスでは、モデル内のパラメーター値を継続的に調整し、最終的に実験データとモデルの計算値の間で最良の一致を達成します。