X線回折装置は主に、粉末、ブロックまたは薄膜サンプルの相特性評価、定量分析、結晶構造分析、材料構造分析、結晶配向分析などに使用されます。

結晶化条件が異なるため、粉末薬物サンプルの粒子の形態は異なります。

日本の理化学研究所の放射光施設 春-8 の研究者とその共同研究者は、材料科学の重要なプロセスであるセグメンテーション分析をより迅速かつ簡単に実行する方法を開発しました。

X 線分析において、入射 X 線ビームと回折 X 線ビームの間の角度を測定するために使用される機器。回折計は、回折強度の変化を 2θ 角度に自動的にマッピングします。

研究者らは、これまで可能であったものよりもはるかに低い X 線量で生物の詳細な画像を生成する X 線画像技術を開発しました。

粉末回折計としても知られる多結晶 X 線回折装置は、通常、粉末、多結晶金属、またはポリマーのバルク材料の測定に使用されます。

定性分析手段としての XRD は盲目的ではなく、便宜的に分析ソフトウェアの助けを借りていますが、基本的に最も重要なことは XRD パターン自体です。

新しい材料特性評価技術として、PDF (ペア 分布 関数) は結晶材料とアモルファス材料の両方の局所構造の研究に役立ちます。

SBA-15 の構造安定性はその細孔サイズと特性に密接に関係しており、XRD はその構造を特徴付ける効果的な方法の 1 つです。

XRDの正式名称はX線回折で、結晶内でのX線の回折現象を利用して回折後のX線信号特性を取得し、処理後に回折パターンを取得します。