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XRDスペクトログラム解析

2024-05-31 00:00

回折パターンの構成は主に回折ピークの位置と強度で構成されます。の分析X線回折パターンは強度と位置の変化に基づいており、ミクロスケールとマクロスケールの両方で材料の変化を解明します。

X-ray diffractiondiffraction

各材料は、特性とも呼ばれる独自の固有の回折パターンを持っています。回折パターン。材料のセル サイズによって、回折線の位置、つまり回折スペクトルで観察されるピークの位置が決まります。一方、セル内の原子の種類と配置によって各回折ピークの強度が決まります。さらに、結晶の形状の対称性によって、存在する回折ピークの数が決まります。

X-ray diffractometer

X線回折装置は現在世界で最も先進的なシステムであり、粉末、フィルム、完全な結晶のさまざまな微細構造の決定、分析、研究タスクに完全に機能し、適応できるように設計されています。 X線回折スペクトルにおいて、それぞれの物質は特有の回折スペクトルを持っています。物質の不均一混合物では、X線回折 スペクトルは各相の単純な重ね合わせを表します。



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