ゼフ は、材料の局所構造解析のための高度な特性評価手法として、X 線結晶回折よりも短距離構造範囲でより正確な原子構造配位情報を提供できます。

X 線回折は、物質の結晶構造、化学組成、物理的特性を明らかにするために使用できる、一般的に使用される非破壊分析手法です。

X 線回折は、材料の X 線回折、その回折パターンの分析を通じて、材料の組成、材料内の原子または分子の構造または形状、およびその他の研究手段を取得します。

プロパティが 2 次元効果によって支配されるマテリアル。2 次元スケールでのマテリアルのプロパティは、より大きなスケールでのプロパティとは異なります。

その場での 回折ピークの位置と強度の変化に従って、サイクル中に生成される中間体を推測することができ、これらの中間体から反応機構をさらに導き出すことができます。

X 線回折は、原材料や製剤の研究など、医薬品の品質管理のあらゆる段階で行われます。

残留応力は、材料や部品の寸法安定性、耐応力腐食性、疲労強度、相変化、その他の特性に大きな影響を与えます。その測定には、学界と産業界が広く関心を持っています。

最近、新しい研究により金属酸化物とゼオライト A の融合に成功し、XRD および FTIR 技術を通じてこのプロセスの謎が明らかになりました。

XRD は X 線回折の略で、物質を扱う人にとって、どのような物質が作成されたとしても、XRD は最も一般的に使用され、最も基本的な特性評価手段です。