あX線回折計X 線ビームを試料に照射し、試料内の原子と相互作用して回折を発生させます。X 線が試料内の原子間隔の整数倍に一致すると回折パターンが形成され、一連の回折ピークが生じます。これらの回折ピークの位置、強度、形状を分析することで、試料の結晶構造と相構成を推測できます。

X線回折計の特徴

1. 高感度：X線回折計は微量の物質を検出できるため、さまざまな結晶性および非晶質材料の分析に適しています。

2. 高解像度: X 線回折計は優れた解像度を示し、異なる結晶構造を持つ物質を区別することができます。

3. 高速分析: X 線回折法では、通常数分から数十分以内にサンプルを迅速に分析できます。

4. 正確なデータ: 高精度の検出器を使用することで、X線回折計正確なデータが得られます。

X線回折計の用途

1. 結晶構造解析

2. 相構成分析

3. 結晶成長プロセス研究

4. 材料特性研究