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一、オリジナルバッテリーアクセサリのコア機能と応用シナリオ 本来バッテリーアクセサリの機能的な位置付け: 1. 従来の分解によるデータ損失やサンプル汚染を回避するために、バッテリーの充電および放電プロセス中にリアルタイムテスト（X線回折、光学観察など）を実施します。 2.実際のバッテリーの動作環境をシミュレートし、温度制御、電解液の添加、密封保証をサポートします。 元々バッテリーアクセサリの典型的な適用シナリオ: 1.X線回折 インサイチューテスト：充電および放電プロセス中の電極材料（LiFePO4など）の結晶相変化を分析します。 2.光学的その場観察：ベリリウム窓（ポリエステルフィルム）を通して電極の表面反応を観察します。 3.ハイスループットスクリーニング：複数の条件（温度、圧力、電解質）でのバッテリー性能研究をサポートします。 4.炭素、酸素、窒素硫黄、金属埋め込み錯体などを含む電気化学システムに広く使用されます。    二、元々電池アクセサリーの構造構成と材料特性 1.元々バッテリーアクセサリのコアコンポーネント： 下部断熱カバー：主にアルミナセラミックまたはポリテトラフルオロエチレン材料で作られ、設置チャンバーと冷却剤流路を含み、温度制御をサポートします。 上部導電カバー: 貫通穴を備え、下部絶縁カバーにボルトで固定して電流経路を形成します。 下部電極:トッププレートとサポートコラムを含み、バタフライスプリングの圧縮によって固定され、組み立てプロセスが簡素化されます。 ベリリウムウィンドウ（ポリエステルフィルム）：直径 15mm（カスタマイズ可能）、厚さ 0.1mm（カスタマイズ可能）、X 線透過または光学観察に使用されます。 2.元々バッテリー付属品の技術的改良： 正式な組み立て: 従来の反転方式に代わるものであり、操作プロセスを簡素化し、セパレーターと正極材料への圧縮の影響を軽減します。 冷却と加熱：下部断熱カバーには冷媒チャネルまたは抵抗線パイプラインが組み込まれており、-400℃の温度制御をサポートします。 シーリング設計：バタフライスプリングが下部電極を圧縮して固定し、設置シートの空気の流れと連携して吹き飛ばし、霜や氷の形成を防止します。 三、元々バッテリーアクセサリーの技術的利点 1. 元々バッテリー付属の便利な操作： 正式な構造により、グローブ ボックス内の動作時間が短縮され、組み立ての複雑さが軽減されます。 コンポーネントのモジュール設計 (交換可能なベリリウム ウィンドウや断熱スリーブなど) により、メンテナンスの効率が向上します。 2. パフォーマンスパラメータ： 試験範囲：温度範囲0.5～160℃、耐熱温度400℃まで。 シーリング：漏れを防ぐために電解液の長期安定保管をサポートします。 互換性: X 線回折計やその他の機器に適しています。

XRDおよびFTIRファイバーアクセサリは、包括的な材料特性評価ソリューションを提供します。XRDユニットは結晶構造と配向を分析し、FTIRシステムはマイクロイメージングとATR技術を用いて組成を特定します。アクセサリには、ナノスケール分析のための小角回折、平行ビーム薄膜、で-situ温度ステージが含まれます。自動化されたサンプルハンドリングにより、効率が向上します。用途は、材料研究、産業品質管理、ポリマー二色性の科学的研究など多岐にわたります。これらのツールは進化を続け、繊維科学と産業用途におけるイノベーションを推進しています。

多機能統合測定アタッチメントは、テクスチャ、応力、薄膜の精密分析を可能にします。極点図マッピング、二軸応力測定、面内回転測定に対応しています。金属、セラミックス、コーティング、ポリマーの測定に最適です。0.001°ステップの精度とΦ100mmのサンプル容量を備えています。

X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気の分野で広く使用されています。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）の基本原理は、X線のエネルギーが試料中の元素の内電子殻のエネルギーと共鳴すると、急激な電子増加が励起され、吸収端と呼ばれる連続スペクトルが形成されるというものである。吸収端付近では、X線エネルギーが増加すると、X線の侵入深さが増すにつれて吸収率が単調に減少する。スペクトルが特定の吸収端を超えて拡張されると、微細構造が観測され、20～30電子ボルトを超える幅のピークとショルダーが吸収端の起点を通過するとすぐに、X線吸収近傍端構造（ザネス）領域が現れる。吸収端の高エネルギー側、エネルギーが数百電子ボルトまで減衰する微細構造をX線吸収微細構造（XAFS）と呼ぶ。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な特徴は次のとおりです。 短距離秩序への感度：短距離秩序に依存し、長距離秩序に依存しないため、幅広いサンプルの測定が可能です。非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心、金属タンパク質などに加え、結晶中の不純物原子の構造研究にも使用できます。 強い元素特性：X線吸収端には元素特性があり、サンプル内の異なる元素の原子については、入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子隣接構造を調べることができます。 高感度: 蛍光法は、100万分の1という低濃度の元素サンプルの測定に使用できます。 構造情報の包括的な取得：吸収原子と隣接原子間の距離、これらの原子の数と種類、吸収元素の酸化状態など、局所構造を決定するパラメータを提供できます。 サンプルの準備は簡単で、単結晶は不要です。また、実験条件下ではデータ収集時間も比較的短くなります。シンクロトロンX線源を使用すれば、スペクトル線の測定には通常数分しかかかりません。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な利点は次のとおりです。 コアの利点：最高の光束製品 100万光子/秒/eVを超える光子束、他の製品よりも数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現 優れた安定性： 光源の単色光強度の安定性は0.1％以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。 1%検出限界: 高い光束、優れた光路最適化、および優れた光源安定性により、測定される元素含有量が 1% を超える場合でも、高品質の EXAFS データを取得できます。 4. X線吸収微細構造分光計（XAFS）の応用分野： エネルギー分野：リチウム電池やその他の二次電池材料の研究、燃料電池の研究、水素貯蔵材料の研究など。XAFS は、充放電サイクルおよび電気化学反応中の中心原子の濃度、価数状態、配位環境、および動的変化を取得するために使用できます。 触媒分野：ナノ粒子触媒、単原子触媒などの研究に用いられます。XAFSにより、担体上の触媒の形態、担体との相互作用形態、触媒プロセス中の変化、および極微量の金属イオンの近傍構造を取得します。 材料科学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、さまざまな材料の特性評価、複雑系および無秩序構造材料の研究、放射性同位体の研究、表面および界面材料の関連特性の研究、および材料の動的変化の研究に使用されます。 地質学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は地質学的研究における鉱石材料の元素価数状態の分析に使用できます。 環境分野：XESはCr/As元素などの価数状態分析に使用できます。 放射化学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、セ、U 元素などの価電子状態分析に使用できます。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）は、その独特な動作原理、優れた特性、そして幅広い応用分野により、現代の科学研究において重要な役割を果たしています。物質の微細構造と化学状態をより深く理解するための強力な手段を提供し、複数の学問分野の発展と進歩を促進しています。

NDTポータブルX線溶接試験機の主な目的 国防、造船、石油、化学、機械、航空宇宙、建設などの産業分野における船体、パイプライン、高圧容器、ボイラー、航空機、車両、橋梁などの材料および部品の加工および溶接品質、および各種軽金属、ゴム、セラミックスなどの内部欠陥および固有の品質を検査することです。 NDTポータブルX線溶接試験機の原理と応用： NDTポータブルX線溶接試験機は、材料の音響、光学、磁気、電気特性を利用して、試験対象物の性能に損傷や影響を与えることなく、欠陥や凹凸の存在を検出します。欠陥のサイズ、位置、性質、数量などの情報を提供します。破壊試験と比較して、以下の特徴があります。1つ目は非破壊です。試験中に検出対象物の性能を損なうことはありません。2つ目は包括的です。検出は非破壊であるため、破壊検査では達成できない試験対象物の100％包括的な検出を行う必要があります。3つ目は包括的です。破壊試験は一般的に、機械工学でよく使用される引張、圧縮、曲げなどの原材料の試験にのみ適用されます。破壊試験は製造原材料に対して行われ、完成品や使用中のアイテムについては、継続して使用される予定がない限り、破壊試験を行うことはできません。一方、試験対象物の性能を損なうことはありません。したがって、製造原材料、中間プロセス、さらには最終製品に対する完全なプロセステストを実行できるだけでなく、稼働中の装置のテストも実行できます。 NDTポータブルX線溶接試験機の特徴： X 線発生器は容積が小さく、陽極が接地され、ファンによって強制冷却されます。 ◆ 軽量で持ち運びやすく、操作も簡単です。 仕事と休息の比率は 1:1 です。 美しい外観と合理的な構造。 ◆ オペレータの安全を確保するために暴露を遅らせます。 NDTポータブルX線溶接試験機の目視検査範囲 1. 溶接部の表面欠陥検査。表面割れ、溶け込み不良、溶接継ぎ目の漏れなど、溶接品質を確認します。 2. 状態確認。表面のひび割れ、剥がれ、引っ張り、傷、へこみ、突起、シミ、腐食などの欠陥がないか確認します。 3. 内部空洞検査。ウォームギアポンプ、エンジンなど特定の製品が作動している場合、指定された技術要件に従って内視鏡検査を実施します。 4. 組立検査。必要に応じて、3D工業用ビデオ内視鏡​​を用いて組立品質を検査します。組立または特定の工程が完了した後、各部品を検査します。部品の組立位置が図面または技術仕様の要件を満たしているかどうか、組立不良がないかを確認します。 5. 過剰品検査。製品キャビティ内に残留物、異物、その他の破片がないか確認します。

WBK-01 X線照射装置は、高エネルギーX線を発生させ、細胞や小動物に照射します。X線照射装置は、様々な基礎研究および応用研究に使用されています。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。今日では、より小型で安全、シンプル、低コストのX線照射装置を実験室に設置し、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。様々なサンプルを、生殖能力や安全性に影響を与えることなく、実験室で直接照射することができます。このX線照射装置は、専門的なX線訓練を受けていない人でも簡単に使用でき、高額なライセンス申請や安全対策、放射線源の維持管理費用もかかりません。この装置は操作が簡単で、安全、信頼性が高く、費用対効果が高く、放射性同位元素源の代替として使用できます。 1. X線照射装置の原理： X線照射装置のX線管球は高エネルギー電子を生成し、これが標的物質（通常はタングステン）に衝突することでX線を発生します。高電圧電界を通して電子を加速することで、必要なX線波長と強度を生成するのに十分なエネルギーが得られます。その後、X線は一連のコリメータ、フィルター、その他の装置を通して調整・最適化され、最終的に試料に照射されます。 X 線照射装置の主な構成要素は次のとおりです。 X線照射装置は、主にX線管、高電圧発生装置、制御回路、冷却システム、安全保護装置、試料室などから構成されています。このうち、X線管はX線の発生を担う中核部品です。高電圧発生装置はX線管に必要な高電圧と高電流を供給します。制御回路はX線の発生、強度、照射時間などのパラメータを制御します。冷却システムは、運転中の過熱による機器の損傷を防ぎます。安全保護装置は、作業者の安全と使用環境を確保します。 3. X線照射装置の応用分野： X線照射装置は生物学分野で使用でき、細胞培養や分裂阻害研究、遺伝子変化誘導、幹細胞研究、小動物照射、結核細胞研究、血液細胞研究、骨髄移植照射、移植免疫、免疫抑制療法、放射線感受性研究、DNA損傷研究などに使用できます。 X線照射装置は医療分野でも利用されています。腫瘍治療では、腫瘍部位を局所的に照射し、がん細胞を死滅させたり、その成長を抑制したりするために使用できます。また、X線照射装置は、X線による組織や臓器の画像変化を観察して病状の判定に役立てるなど、特定の病気の補助診断としても使用できます。 X線照射装置は食品業界で使用できます。食品の照射保存に使用でき、X線照射により食品内の微生物を殺し、酵素の活性を抑制し、食品本来の味と栄養成分を維持しながら食品の保存期間を延ばします。 X線照射装置は産業分野で使用することができ、ポリマー材料の強度と安定性を向上させるための架橋処理など、材料の性能試験や改質に使用できます。また、材料内部の欠陥や亀裂を検出するための非破壊検査にも使用できます。 要約すると、X線照射装置は、幅広い応用の可能性と価値を持つ重要な科学的および産業的装置です。

X線結晶配向装置は、結晶デバイスの精密加工・製造に不可欠な装置です。X線結晶配向装置は、X線回折の原理を利用し、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定します。また、上記の結晶を方向性切断するための切断機も備えています。X線結晶配向装置は、結晶材料の研究、加工、製造業界で広く利用されています。 1. X線結晶配向装置の原理： X線結晶配向装置は、X線回折の原理を利用して、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定します。切断機を装備したX線結晶配向装置は、上記の結晶の方向性切断に使用でき、結晶デバイスの精密加工および製造に不可欠な機器です。X線結晶配向装置は、測定精度±30インチ、デジタル表示モード、10インチの小さい読み取り値を備えています。直径1〜30キログラム、2〜8インチのサンプルを測定できます。角度表示：デジタルモード、測定精度±30インチ。 2. X線結晶配向装置の特徴： 操作は簡単で、専門知識や熟練した技能は必要ありません。デジタル角度表示は視認性が高く、読み取り誤差を低減します。モニターは任意の位置でゼロ点調整が可能で、チップ角度の偏差値を簡単に表示できます。デュアル角度測定器は同時動作が可能で、効率が向上します。X線結晶配向器には、ピーク増幅機能を備えた特殊な積分器が搭載されており、検出精度が向上しています。X線管球と高電圧ケーブルを一体化することで、高電圧の信頼性が向上しています。高電圧検出器には、DC高電圧モジュールと真空吸引サンプルボードを採用し、角度測定の精度と速度を向上させています。 X 線結晶配向装置の主なコンポーネントは次のとおりです。 放射管: 通常は銅ターゲットを陽極として接地し、冷却には強制空冷を採用します。 高電圧電源：X線管に安定した高電圧と高電流を供給し、システム全体の中核コンポーネントの1つです。 検出器: 回折された X 線光子を受信し、それを電気信号に変換して、その後の処理および分析に使用します。 ゴニオメーター: 結晶サンプルの回転角度を正確に測定し、回折面の方向情報を決定するために使用されます。 データ処理システム: 検出器から出力された信号を処理、分析、保存し、結晶構造に関する情報を取得します。 4. X線結晶配向装置の応用分野： 材料科学: 金属、セラミック、半導体などのさまざまな材料の結晶構造を研究するために使用されます。 地質学: 鉱物の種類の識別、岩石構造の分析などに使用されます。 化学：分子結晶の構造と変化を研究するために使用されます。 物理学: 物質の微細構造と物理的特性を調査するために使用されます。 要約すると、科学技術の継続的な進歩と革新により、X線結晶配向装置では、将来的にさまざまな分野でより多くの新しい材料と技術が応用され、人類社会の継続的な発展が促進されると考えられます。

X線結晶分析装置はブラッグの法則に基づき、回折パターンを測定することで結晶構造を解析します。主要コンポーネントには、X線管球（2.4kW、マルチターゲット）、分光結晶、検出器、ゴニオメータが含まれます。TDFシリーズは、4ウィンドウ操作、PLC制御、自動管球調整機能を備えています。材料科学、化学、生物学、地質学における構造解析に広く利用されています。

タイムスタンプ-10 デスクトップ X 線回折装置は、シンチレーション/比例/リニアアレイ検出器を搭載でき、材料の相構造を分析するために使用される装置です。 1. タイムスタンプ-10 デスクトップ X 線回折装置の動作原理:ブラッグの法則に基づき、単色 X 線ビームが結晶に入射すると、ブラッグ回折条件 (n λ = 2dsin θ、λ は X 線の波長、d は格子間隔、θ は入射角) が満たされると、結晶内の原子または分子が散乱して X 線と干渉し、特定の回折パターンを形成します。さまざまな角度で回折強度を測定することで、結晶の構造情報を取得できます。 2. タイムスタンプ-10デスクトップX線回折装置の特徴： デスクトップ X 線回折装置の高解像度により、物質の結晶構造を正確に測定できます。これは、複雑な混合物の研究や、含有量の少ない多結晶相や微量相の探索に不可欠です。 デスクトップ X 線回折装置の非破壊分析: テスト プロセス中にサンプルに損傷を与えることはなく、サンプルは元の状態のままで、さらにテストしたり使用したりできます。 デスクトップ X 線粉末回折装置の操作は簡単です。現代のデスクトップ X 線粉末回折装置には通常、自動化機能とインテリジェンス機能があり、操作がより便利になり、オペレーターの専門知識とスキルの必要性が軽減されます。 デスクトップ型X線粉末回折装置の汎用性：X線粉末回折装置は、相の定性・定量分析、格子定数分析、応力分析など、さまざまな分析を実行できます。 3. タイムスタンプ-10デスクトップX線粉末回折装置の技術的パラメータ： デスクトップ X 線回折装置は容積が小さく、高周波および高電圧電源により装置全体の電力消費が削減されます。 サンプルを迅速に校正およびテストできます。回路制御がシンプルで、デバッグとインストールが簡単です。 回折ピーク位置の測定精度は0.001°です。 検出器: シンチレーション、比例、リニアアレイ; 2θの範囲:- 10°~150° 電力：600W；最大電圧：40kV；最大電流：15mA； X 線管: 波形セラミック管、金属セラミック管、ガラス管。 4. タイムスタンプ-10デスクトップX線回折装置の応用分野： 材料科学: 金属、セラミック、半導体、その他の材料の結晶構造、相構成、粒径、結晶化度などを研究するために使用され、材料科学者が材料の特性と特徴を理解するのに役立ちます。 化学の分野では、X 線回折装置は、触媒、セメント、医薬品、その他の製品の製造業界で、未知のサンプル内の相を識別したり、混合サンプル内の既知の相を定量的に分析したりするために使用できます。 地質学: 鉱石や岩石などの相分析を実施して、鉱物の組成と構造を決定します。 環境科学: 土壌や堆積物などの環境サンプル内の鉱物組成や汚染物質の形態を分析するために使用されます。 食品業界：食品中の結晶成分、添加物などの検出。 タイムスタンプ-10 デスクトップ X 線回折装置は、複数の分野で重要な応用価値を持つ強力な分析機器です。

タイムスタンプ-20高出力X線回折計（ベンチトップXRD）は、主に粉末、固体、および同様のペースト材料の相分析に使用されます。X線回折の原理は、定性または定量分析、結晶構造分析、および粉末サンプルや金属サンプルなどの他の多結晶材料に使用できます。ベンチトップXRDは、工業、農業、国防、医薬品、鉱物、食品安全、石油、教育、科学研究などの業界で広く使用されています。 1、タイムスタンプ-20ベンチトップX線回折計（ベンチトップXRD）の主要機能： 新しい高性能アレイ検出器の搭載により、小型で軽量なデバイス全体のパフォーマンスが大幅に向上しました。マシン全体がデスクトップサイズ（通常≤1m³）に統合されているため、スペースを節約でき、小規模な研究室や教育環境に適しています。高周波および高電圧電源の動作電力は1600Wに達します。迅速な分析、サンプルの較正とテストを迅速に行うことができます。高性能検出器（2次元検出器など）を使用し、光路を最適化することで、サンプルのスキャンを数分で完了できます。回路制御が簡単で、デバッグとインストールが簡単です。角度の再現性は0.0001に達します。低消費電力で安全、低出力X線管（≤50Wなど）を使用し、複数の放射線防護を備え、特別な遮蔽室は不要です。ユーザーフレンドリーで、自動化ソフトウェアを備え、ワンクリック操作、リアルタイムのデータ視覚化、標準データベース（国際労働組合 PDFなど）の比較をサポートしています。 2. タイムスタンプ-20ベンチトップX線回折計（ベンチトップXRD）の一般的な応用シナリオ： X線回折計（ベンチトップXRD）の材料科学：結晶構造と相組成（金属、セラミックス、ポリマーなど）の迅速な識別。 X線回折計（ベンチトップXRD）の材料科学：原材料や完成品（医薬品や電池材料など）の結晶純度の産業現場での試験。 X線回折計（ベンチトップXRD）の材料科学：ブラッグ回折原理を視覚的に実証する学部生の実験教育。 X線回折計（ベンチトップXRD）の材料科学：文化遺産の鉱物組成分析または現場サンプルの予備スクリーニング。 3.タイムスタンプ-20ベンチトップX線回折計（ベンチトップXRD）の技術的パラメータ： プロジェクト: パラメータ範囲 X線源：Cuターゲット（λ=1.54Å）、Moターゲット（オプション） 電圧/電流:10-50 キロボルト/0.1-2 ミリアンペア 角度測定器範囲：0〜90°2θ（一部モデルは拡張可能） 角度分解能:≤ 0.01° 検出器タイプ: 1次元線形または2次元表面検出器 サンプルサイズ: 粉末（ミリグラム）、フィルムまたはブロック 4.タイムスタンプ-20ベンチトップX線回折計（ベンチトップXRD）の利点と限界： 利点: 低コスト (大型 X線回折 の約 1/3 ～ 1/2)、メンテナンスが簡単。 非破壊分析と簡単なサンプル準備（粉末を直接置くなど）をサポートします。 制限事項: 解像度や感度はハイエンド機に比べると若干劣るため、超微細構造解析には適さない可能性があります。 極端な条件でのテスト（高温/高圧の現場実験など）は通常実行不可能です。