回転試料ホルダーは、試料の配向を精密に制御するための実験装置であり、X線回折（X線回折）、分光分析、材料試験などの分野で広く使用されています。試料を回転させることにより、優先配向が排除され、測定精度と再現性が向上します。 1. 回転サンプルホルダーの核となる機能 （１）優先配向の除去：試料面（β軸）を回転させることにより、粗大粒子や組織による回折誤差が低減され、回折強度の再現性が向上します。 （2）多位置測定：凹凸のあるサンプル（穀物など）に対して多角度測定を行い、異なる位置でのデータを平均化し、結果の精度と再現性を向上させます。 （３）自動操作：一部の装置は、試験効率を向上させるために自動回転およびサンプル交換をサポートしている（XRD全自動回転サンプルホルダーなど）。 2. 回転サンプルホルダーの技術的特徴 （１）構造設計： 駆動方式：モーター、シャフト、ギア、ラックなどの機構により精密な回転を実現し、一部の機器には速度補正用のサーボモーターやエンコーダーが搭載されています。 クランプ装置: サンプルは圧縮クランプ、カードスロット、またはクランプブロックで固定され、内側はゴム層で部分的にクランプされ、さまざまな材料に適応します。 回転パラメータ: 回転速度は 1 ～ 60 回転数 に達し、最小ステップ幅は 0.1 度で、連続モードまたはステップ モードをサポートします。 （２）適応性： X線回折 装置、光学/電気試験システムなどにインストールでき、複数のサンプルホルダー (反射プローブ、インサイチュー バッテリー アクセサリなど) をサポートします。 一部のデバイスは 360° 回転をサポートし、光学や電子機器などのさまざまな測定要件と互換性があります。 3. 回転サンプルホルダーの応用シナリオ （１）X線回折（X線回折）： 組織や結晶構造を持つサンプル（金属材料、薄膜など）を分析し、優先配向が回折結果に与える影響を排除するために使用されます。 全自動モデルは、マルチサンプルテストの効率を向上させ、ドアの開閉回数を減らし、機器の寿命を延ばすことができます。 （２）スペクトル分析と材料試験 反射プローブを用いて、異なる位置でのスペクトルデータを回転・平均化することで、凹凸のあるサンプル（穀物など）を測定するために使用されます。高温・低温環境下における現場測定にも対応し、複雑な実験条件にも対応します。 （３）多機能実験： プローブ、電気的または光学的サンプルホルダーを組み合わせることで、電気的特性、表面形態、その他の特徴の包括的なテストを実現できます。 回転サンプルホルダーは、サンプルの向きを正確に制御することで、従来の固定サンプルステージの優先配向に起因する測定誤差の問題を解決します。同時に、自動化とマルチシーンへの適応性により、XRDやスペクトル分析などの分野において重要なツールとなっています。回転精度、サンプルの種類、自動化レベルなどの実験要件に基づいて、対応するモデルを選択する必要があります。

丹東通達科技は、X線回折計専用部品である小角回折アタッチメントの開発を専門としています。0°～5°の回折角範囲をカバーするこれらのアタッチメントは、ナノスケールの多層膜の厚さを高精度に測定し、ナノ材料の構造解析をサポートします。TD-3500、TD-3700などのシリーズ回折計とシームレスに互換性を持つように設計されており、材料科学、化学工学、地質学、鉱物学などの分野におけるナノスケール材料の特性評価に広く使用されています。輸入したPLC制御技術とモジュール設計を採用したこれらのアタッチメントは、装置の自動化と動作安定性を大幅に向上させます。TDシリーズの装置は現在、国際規格に準拠しており、米国やアゼルバイジャンなどの国々への輸出に成功しており、世界的なナノ材料研究に重要な技術サポートを提供しています。

丹東通達の並列光学薄膜測定アクセサリは、X線回折計用の特殊コンポーネントであり、薄膜サンプルの試験性能を大幅に向上させます。細長い格子設計により散乱干渉を効果的に抑制し、極​​薄膜およびナノ多層膜の信号明瞭度を向上させます。 このアクセサリは小角回折分析（0°～5°）をサポートし、膜厚と界面構造の精密測定を可能にします。TD-3500、TD-5000、TD-3700、TDM-20の各回折計と互換性があり、プラットフォーム間で一貫した性能を保証します。 このツールは、半導体検査、光学コーティング評価、新エネルギー材料研究など幅広い分野で利用されており、微弱な信号やバックグラウンドノイズといった課題に対処します。ナノマテリアルと半導体産業の発展に伴い、このアクセサリは最先端の研究と品質管理においてますます重要な役割を果たすことが期待されています。

現場中低温アクセサリは、材料分析に使用される実験装置のアクセサリで、主に低温または中低温環境での現場試験に使用されます。真空環境、温度制御、特殊な窓材料設計と組み合わせることで、化学、材料科学、触媒研究などの分野で広く使用されています。 1. 現場中低温アクセサリのコア機能と技術パラメータ （１）温度範囲と制御精度 真空環境（液体窒素冷凍など）において、-196℃～500℃の温度範囲に対応し、温度制御精度は±0.5℃です。一部のモデルは-150℃～600℃の温度範囲をカバーし、より幅広い実験ニーズに対応します。 （２）冷凍方法及び冷却システム 液体窒素冷却を使用し、液体窒素消費量は4L/h未満、脱イオン水循環冷却システムにより安定した温度を維持します。オプションで低温液体窒素冷却システム（Cryostreamシリーズなど）もご用意しています。 （３）窓材料と構造設計 窓の材質は主にポリエステルフィルム（TD シリーズなど）ですが、一部の赤外線構成では KBr または SiO2 の窓が使用されます。 構造には高圧耐性設計（133kPaなど）が採用されており、複数のガス入口/出口が装備されており、その場での反応や雰囲気制御に適しています。 2. 現場中低温アクセサリの応用分野 （１）材料研究 X線回折計（TD-3500など）のin-situ試験に使用され、低温における結晶構造の変化や相転移過程を研究します。不均一触媒、気固相互作用、光化学反応などの研究をサポートします。 （2）電気化学および電池研究 耐熱性は最大 400 ℃ で、電気化学システム内の複合材料 (炭素、酸素、窒素、硫黄など) をテストするためのインサイチュー バッテリー アクセサリに拡張できます。 （3）産業応用 丹東通達テクノロジー（TDシリーズ）の製品は化学、化学工学、地質学、冶金学などの分野に応用されており、米国やアゼルバイジャンなどの国に輸出されています。 3. 現場用中低温アクセサリの代表的な製品とブランド​ 丹東通達テクノロジー（TDシリーズ） TD-3500やTD-3700などのX線回折計用アクセサリは、高精度な温度制御（±0.5℃）と効率的な液体窒素冷却を重視しています。拡散反射分光測定に適しており、ステンレススチール製の反応チャンバー、マルチウィンドウ構成（FTIRまたはUV-Vis対応）、133kPaまでの高真空環境をサポートします。 全体として、で situ中低温アクセサリは、精密な温度制御、真空環境、そして様々な装置に合わせた窓設計により、材料のin situ分析における重要なツールとなっています。低温結晶構造の研究や触媒反応機構の探究において、かけがえのない役割を果たしています。

高温加熱中の試料の結晶構造変化、および高温加熱中の各種物質の相互溶解変化を理解する。高温インサイチューアタッチメントは、高温条件下での材料のインサイチュー特性評価に使用される実験装置であり、主に高温加熱中の材料の結晶構造変化、相転移、化学反応などの動的プロセスを研究するために使用されます。以下では、技術パラメータ、適用シナリオ、注意事項の観点から詳細に説明します。 一、現場高温アタッチメントの技術的パラメータ 1. 現場高温アタッチメントの温度範囲 不活性ガス/真空環境：最高温度は1600℃に達します。 標準環境: 室温～1200 ℃ (TD-3500 X線回折 アクセサリに付属)。 2.現場高温アクセサリの温度制御精度：通常は±0.5℃（現場高温アクセサリなど）、1000℃を超える一部の機器の精度は±0.5℃です。 3. 高温現場設置型窓の窓材料と冷却方法 窓材質：X線透過用のポリエステルフィルム（耐熱温度400℃）またはベリリウムシート（厚さ0.1mm）を使用します。 冷却方法：脱イオン水循環冷却により、高温条件下でも装置の安定した動作が保証されます。 4. 現場高温アタッチメントの雰囲気および圧力制御： 不活性ガス（アル、N ₂ など）、真空または大気環境をサポートし、一部のモデルは 10 バー 未満の圧力に耐えることができます。 雰囲気ガス流量を調整可能（0.7〜2.5L/分）で、腐食性ガス環境に適しています。 二、現場高温アタッチメントの応用シナリオ 1. 高温現場設置型接合具に関する材料研究 高温における結晶構造の変化（白金相転移など）や相転移過程（融解や昇華など）を分析します。また、溶解や酸化など、高温における物質の化学反応を研究します。 2. 現場高温アタッチメントの機器適応性 TD-3500、TD-3700などのX線回折計（X線回折）で主に使用されます。カスタマイズされたフランジ接続が必要ですが、走査型電子顕微鏡（SEM）を使用したin-situ引張試験にも使用できます。 三、現場高温アクセサリの使用上の注意 1. 現場高温アタッチメントのサンプル要件 強酸／塩基への分解やセラミック結合を避けるため、対象温度範囲におけるサンプルの化学的安定性を事前に試験する必要があります。サンプルの形状は、アタッチメントの要件（厚さ0.5～4.5mm、直径20mmなど）を満たす必要があります。 2. 高温現場設置型アタッチメントの実験操作手順 過熱による機器の損傷を防ぐため、加熱速度を制御する必要があります（例：100℃で最大200℃/分）。実験後は、構造損傷を防ぐため、サンプルを室温まで冷却する必要があります。

多機能サンプルステージは、主に材料科学、半導体製造、電子顕微鏡分析などの分野で使用される高度に統合された実験装置です。その主な特徴は、モジュール設計、多機能統合、高精度制御です。 一、多機能試料ステージのコア機能と構造特性 1. 多機能サンプルステージのモジュール設計： 自己回転カップリングモジュール（速度 0 ～ 20 回転 / 分、ゼロ制限付き）、リフティングモジュール（標準ストローク 50 んん / 100 んん、カスタマイズ可能）、ヒーターモジュール（最高温度 1100 ℃ まで）などのさまざまなモジュールの組み合わせにより、複数の機能が実現されます。 薄膜成長、サンプル洗浄、補助膜形成などのニーズを満たすために、DC/高周波 電源接続をサポートします。 2. 多機能サンプルステージのための高精度制御とセンサー： 温度、圧力などのセンサーを備え、サンプルの環境パラメータをリアルタイムで監視し、制御システムを通じて加熱、冷却などの操作を調整します。 一部のモデルには、操作を容易にするための空気圧バッフル モジュールが組み込まれています。 3. 多機能サンプルステージの互換性と適応性： 従来の切断や研磨による損傷を回避しながら、微量粉末、シート材料、大型サンプルなどの不規則なサンプルのテストに適します。 6 インチ未満のサンプル サイズとカスタマイズ可能なフランジ インターフェイスをサポートします。 二、多機能サンプルスタンドの応用分野 1. 多機能サンプルステージ用薄膜技術：MBE（分子線エピタキシー）、PLD（パルスレーザー蒸着）、マグネトロンスパッタリングなどの高度な薄膜成長技術、および基板アニール、高温脱ガスなどのプロセスに使用されます。 2. 多機能試料ステージの電子顕微鏡分析： 冷視野走査型電子顕微鏡: 長いネジでサンプルを固定し、互換性のある真鍮ワッシャーで導電率を調整します。 透過型電子顕微鏡/FIB システム: インサイチュー剥離、ナノプローブ テスト、透過型電子顕微鏡 分析を統合し、サンプルの転送による汚染や損傷を回避します。 3. 多機能サンプルステージの故障解析：FIB および 透過型電子顕微鏡 システムに原子サイト剥離、電気テスト、および解析プロセスを統合して、成功率と効率を向上します。 三、多機能サンプルステージの技術的利点 1. 多機能サンプルステージの統合と自動化：モジュール設計により手動操作の複雑さを軽減し、真空環境での全体的な動きと正確な位置決めをサポートします。 2. 多機能サンプルステージの高い信頼性：標準フランジインターフェース（CF50/CF40など）を使用して密閉性と互換性を確保します。 3. 多機能サンプルテーブルのカスタマイズ：加熱材質、ストローク長さ、サンプルホルダータイプ（3爪バヨネットタイプ、ボトムフォークタイプなど）をニーズに応じて選択できます。 多機能試料ステージは、材料研究やミクロ分析における重要な機器であり、X線回折装置で広く使用されています。その価値は、機能統合、操作の柔軟性、そして複雑な実験要件への適応性にあります。具体的な選択は、実際のアプリケーションシナリオ（薄膜技術、電子顕微鏡分析、故障解析など）に応じて、対応するモジュールと性能パラメータを適切に組み合わせる必要があります。

一、オリジナルバッテリーアクセサリのコア機能と応用シナリオ 本来バッテリーアクセサリの機能的な位置付け: 1. 従来の分解によるデータ損失やサンプル汚染を回避するために、バッテリーの充電および放電プロセス中にリアルタイムテスト（X線回折、光学観察など）を実施します。 2.実際のバッテリーの動作環境をシミュレートし、温度制御、電解液の添加、密封保証をサポートします。 元々バッテリーアクセサリの典型的な適用シナリオ: 1.X線回折 インサイチューテスト：充電および放電プロセス中の電極材料（LiFePO4など）の結晶相変化を分析します。 2.光学的その場観察：ベリリウム窓（ポリエステルフィルム）を通して電極の表面反応を観察します。 3.ハイスループットスクリーニング：複数の条件（温度、圧力、電解質）でのバッテリー性能研究をサポートします。 4.炭素、酸素、窒素硫黄、金属埋め込み錯体などを含む電気化学システムに広く使用されます。    二、元々電池アクセサリーの構造構成と材料特性 1.元々バッテリーアクセサリのコアコンポーネント： 下部断熱カバー：主にアルミナセラミックまたはポリテトラフルオロエチレン材料で作られ、設置チャンバーと冷却剤流路を含み、温度制御をサポートします。 上部導電カバー: 貫通穴を備え、下部絶縁カバーにボルトで固定して電流経路を形成します。 下部電極:トッププレートとサポートコラムを含み、バタフライスプリングの圧縮によって固定され、組み立てプロセスが簡素化されます。 ベリリウムウィンドウ（ポリエステルフィルム）：直径 15mm（カスタマイズ可能）、厚さ 0.1mm（カスタマイズ可能）、X 線透過または光学観察に使用されます。 2.元々バッテリー付属品の技術的改良： 正式な組み立て: 従来の反転方式に代わるものであり、操作プロセスを簡素化し、セパレーターと正極材料への圧縮の影響を軽減します。 冷却と加熱：下部断熱カバーには冷媒チャネルまたは抵抗線パイプラインが組み込まれており、-400℃の温度制御をサポートします。 シーリング設計：バタフライスプリングが下部電極を圧縮して固定し、設置シートの空気の流れと連携して吹き飛ばし、霜や氷の形成を防止します。 三、元々バッテリーアクセサリーの技術的利点 1. 元々バッテリー付属の便利な操作： 正式な構造により、グローブ ボックス内の動作時間が短縮され、組み立ての複雑さが軽減されます。 コンポーネントのモジュール設計 (交換可能なベリリウム ウィンドウや断熱スリーブなど) により、メンテナンスの効率が向上します。 2. パフォーマンスパラメータ： 試験範囲：温度範囲0.5～160℃、耐熱温度400℃まで。 シーリング：漏れを防ぐために電解液の長期安定保管をサポートします。 互換性: X 線回折計やその他の機器に適しています。

XRDおよびFTIRファイバーアクセサリは、包括的な材料特性評価ソリューションを提供します。XRDユニットは結晶構造と配向を分析し、FTIRシステムはマイクロイメージングとATR技術を用いて組成を特定します。アクセサリには、ナノスケール分析のための小角回折、平行ビーム薄膜、で-situ温度ステージが含まれます。自動化されたサンプルハンドリングにより、効率が向上します。用途は、材料研究、産業品質管理、ポリマー二色性の科学的研究など多岐にわたります。これらのツールは進化を続け、繊維科学と産業用途におけるイノベーションを推進しています。

多機能統合測定アタッチメントは、テクスチャ、応力、薄膜の精密分析を可能にします。極点図マッピング、二軸応力測定、面内回転測定に対応しています。金属、セラミックス、コーティング、ポリマーの測定に最適です。0.001°ステップの精度とΦ100mmのサンプル容量を備えています。

X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気の分野で広く使用されています。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）の基本原理は、X線のエネルギーが試料中の元素の内電子殻のエネルギーと共鳴すると、急激な電子増加が励起され、吸収端と呼ばれる連続スペクトルが形成されるというものである。吸収端付近では、X線エネルギーが増加すると、X線の侵入深さが増すにつれて吸収率が単調に減少する。スペクトルが特定の吸収端を超えて拡張されると、微細構造が観測され、20～30電子ボルトを超える幅のピークとショルダーが吸収端の起点を通過するとすぐに、X線吸収近傍端構造（ザネス）領域が現れる。吸収端の高エネルギー側、エネルギーが数百電子ボルトまで減衰する微細構造をX線吸収微細構造（XAFS）と呼ぶ。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な特徴は次のとおりです。 短距離秩序への感度：短距離秩序に依存し、長距離秩序に依存しないため、幅広いサンプルの測定が可能です。非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心、金属タンパク質などに加え、結晶中の不純物原子の構造研究にも使用できます。 強い元素特性：X線吸収端には元素特性があり、サンプル内の異なる元素の原子については、入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子隣接構造を調べることができます。 高感度: 蛍光法は、100万分の1という低濃度の元素サンプルの測定に使用できます。 構造情報の包括的な取得：吸収原子と隣接原子間の距離、これらの原子の数と種類、吸収元素の酸化状態など、局所構造を決定するパラメータを提供できます。 サンプルの準備は簡単で、単結晶は不要です。また、実験条件下ではデータ収集時間も比較的短くなります。シンクロトロンX線源を使用すれば、スペクトル線の測定には通常数分しかかかりません。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な利点は次のとおりです。 コアの利点：最高の光束製品 100万光子/秒/eVを超える光子束、他の製品よりも数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現 優れた安定性： 光源の単色光強度の安定性は0.1％以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。 1%検出限界: 高い光束、優れた光路最適化、および優れた光源安定性により、測定される元素含有量が 1% を超える場合でも、高品質の EXAFS データを取得できます。 4. X線吸収微細構造分光計（XAFS）の応用分野： エネルギー分野：リチウム電池やその他の二次電池材料の研究、燃料電池の研究、水素貯蔵材料の研究など。XAFS は、充放電サイクルおよび電気化学反応中の中心原子の濃度、価数状態、配位環境、および動的変化を取得するために使用できます。 触媒分野：ナノ粒子触媒、単原子触媒などの研究に用いられます。XAFSにより、担体上の触媒の形態、担体との相互作用形態、触媒プロセス中の変化、および極微量の金属イオンの近傍構造を取得します。 材料科学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、さまざまな材料の特性評価、複雑系および無秩序構造材料の研究、放射性同位体の研究、表面および界面材料の関連特性の研究、および材料の動的変化の研究に使用されます。 地質学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は地質学的研究における鉱石材料の元素価数状態の分析に使用できます。 環境分野：XESはCr/As元素などの価数状態分析に使用できます。 放射化学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、セ、U 元素などの価電子状態分析に使用できます。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）は、その独特な動作原理、優れた特性、そして幅広い応用分野により、現代の科学研究において重要な役割を果たしています。物質の微細構造と化学状態をより深く理解するための強力な手段を提供し、複数の学問分野の発展と進歩を促進しています。