X 線吸収微細構造スペクトル (ゼフス) は、物質の局所的な原子構造または電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの一般的な分野で広く使用されています。 X線吸収微細構造スペクトル(ゼフス)の原理: X線吸収微細構造スペクトルとは、X線を吸収する原子核電子の特性端付近の高解像度スペクトルを指します。X線のエネルギーが測定対象元素の内殻電子の励起エネルギーと同じ場合、それらは強く吸収され、吸収限界（または吸収端）が生じます。吸収端付近では、多重散乱などにより、X線の吸収係数が振動現象、つまり微細構造を示します。 2. X線吸収微細構造スペクトル(ゼフス)の主な利点: （１）光子束が100万光子/秒/eVを超え、スペクトル効率が他の製品より数倍高い、最高の光束製品。シンクロトロン放射と同等のデータ品質が得られる。 （２）優れた安定性、光源の単色光強度安定性は0.1％以上、繰り返しエネルギードリフトは50meV以下 （３）１％の検出限界、高い光束、優れた光路最適化、優れた光源安定性により、測定元素含有量が１％を超える場合でも、高品質のEXAFSデータが得られます。 3. XAFSの応用分野： 工業触媒、エネルギー貯蔵材料、ナノ材料、環境毒性学、定性分析、重元素分析など。 4. XAFSの主な特徴: （１）短距離秩序：EXAFSは短距離相互作用に依存し、長距離秩序には依存しません。XAFSは、非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心などの無秩序系の構造を研究するために使用できます。 （２）元素特異性：蛍光法は、百万分の一の濃度の元素サンプルを測定するのに使用できます。入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子の隣接構造を調べることができます。 （３）偏光特性：偏光X線は配向サンプルの原子結合角や表面構造を測定するために使用できる。 X 線吸収微細構造スペクトルは、その独自の原理、重要な特性、および幅広い応用分野により、材料科学、触媒化学、エネルギー研究などの複数の分野で不可欠かつ重要なツールとなり、材料の微細構造と電子状態の詳細な調査を強力にサポートしています。

X 線回折計で使用される自動サンプルチェンジャーは、X 線回折実験の効率と精度を向上させることを目的として、サンプルの交換を自動化するために使用される装置です。 輸入されたステッピング モーターによって駆動され、輸入されたシーメンスのプログラマブル ロジック コントローラー (ＰＬＣ) によって制御されるため、手動でサンプルを交換する必要はありません。システムはサンプルを連続的に自動的に測定し、データを自動的に保存します。複数のサンプルを一度にロードして連続測定できます。 自動サンプルチェンジャーの主なコンポーネントは次のとおりです。 サンプル転送機構: 通常、コンベア ベルト、弾性プレス プレート、駆動モーターで構成され、テスト サンプル プレートを順次取得位置へ転送します。 サンプル交換機構：一般的にクランプ部品、動作駆動部品、ターンテーブルで構成され、コンベアベルトピックアップ位置と回折装置のサンプルステージ間でサンプルプレートを自動的に交換できます。 センサーモジュール: 光電センサーモジュールやフォトレジスターセンサーモジュールなど、サンプルの位置や回折計の動作状態を検出し、回路モジュールを制御して対応する制御動作を行うために使用されます。 制御回路モジュール: 上記の機構とモジュールの連携動作を接続および制御し、自動サンプル交換プロセスの正確で安定した動作を保証します。 電源モジュール: 自動サンプル交換装置全体に電源サポートを提供します。 2.自動サンプルチェンジャーの動作原理： 回折計が現在のサンプルのテストを完了すると、センサー モジュールは回折計のシャッター ライトの状態変化を検出し、その信号を制御回路モジュールに送信します。 制御回路モジュールは信号を受信すると、サンプル交換機構を作動させてサンプルをコンベアベルトピックアップ位置と回折装置のサンプルステージに移動し、クランプ部を介してサンプルプレートを2つの位置にそれぞれクランプします。 次に、サンプル交換機構が 2 つのサンプル プレートの位置を交換して、サンプル交換操作を完了します。 次に、コンベアベルトが始動し、次のサンプルボードをピックアップ位置まで搬送し、次のサンプルの変更を待ちます。 3. 自動サンプルチェンジャーの利点と特徴: • テスト効率の向上：手動介入なしに回折機器のテストプロセス中にサンプルを自動的に交換できるため、テストサイクルが大幅に短縮され、作業効率が向上します。 • 人的エラーの削減: 手動でサンプルを交換する際に発生する可能性のある操作上のエラーやミスを回避し、テスト結果の精度と信頼性を向上させます。 • 機器保護: 回折計のドアを頻繁に手動で開閉することで発生する機器故障の可能性を減らし、回折計の耐用年数を延ばします。 • 大量のサンプルのテストに適しています：多数のサンプルを連続的にテストするニーズを満たすために複数のサンプルをロードすることができ、科学研究や生産などの分野でのハイスループット検出に適しています。 要約すると、X 線回折装置で使用される自動サンプルチェンジャーは、X 線回折実験に多くの利便性と利点をもたらし、実験の効率と品質の向上に役立つ、効率的で正確な自動化装置です。

X線回折装置に用いられるグラファイト曲面結晶モノクロメータは、X線の特定の波長を選択し、Kβ線や蛍光X線などの不要な放射線を除去するための重要な部品です。グラファイト曲面結晶モノクロメータは、X線検出器の前に設置され、受光スリットを通過したX線を単色化し、X線スペクトル中のKα特性X線のみを検出します。この装置を使用することで、連続X線、Kβ特性X線、蛍光X線を完全に除去することができ、信号対雑音比の高いX線回折分析が可能になります。銅ターゲットX線管を対応するモノクロメータと組み合わせて使用​​すると、ミネソタ、鉄、共同、Niベースのサンプルから発生する蛍光X線を除去できるため、さまざまなサンプルの分析に適しています。 動作原理: ブラッグ回折：ブラッグの法則に基づき、X線が結晶に一定の角度で入射すると、2dsinθ=nλ（dは結晶の面間隔、θは入射角、λはX線の波長、nは整数）のとき回折が起こります。この原理を利用して、特定の条件を満たすX線のみが通過するように結晶の向きを調整することで、X線波長の選択を実現します。 エネルギー分解能: グラファイト結晶の面間隔と構造特性により、異なるエネルギーのX線を効果的に区別できます。高エネルギー分解能のグラファイト曲面結晶モノクロメータは、不要な放射線をさらに減らし、回折データの品質を向上させることができます。 構造上の特徴: 湾曲形状: グラファイト湾曲結晶モノクロメータは通常、湾曲した形状をしており、X 線を集束させ、回折効率を向上させます。同時に、湾曲した形状は結晶にかかるストレスを軽減し、結晶の安定性と耐用年数を向上させるのにも役立ちます。 高純度グラファイト: グラファイト曲面結晶モノクロメータは通常、優れた回折性能と安定性を確保するために高純度グラファイト材料で作られています。 高い回折効率：高い回折効率を持ち、目的の波長のX線を効果的に選択できるため、回折データの品質が向上します。 広い波長範囲: 広い波長範囲で動作し、さまざまな種類の X 線回折実験に適しています。 優れた安定性：高純度グラファイト材料を使用しているため、優れた安定性と長い耐用年数を備えています。 応用分野: 材料科学: 材料科学の分野では、X 線回折計は材料の結晶構造、相組成、その他の特性を研究するために広く使用されています。グラファイト曲面結晶モノクロメータは、X 線回折計の重要なコンポーネントとして、材料科学研究に重要な技術サポートを提供します。 物理学: 物理学の分野では、X 線回折計は物質の微細構造と物理的特性の研究にも使用されます。 要約すると、X 線回折計で使用されるグラファイト曲面結晶モノクロメータは、効率的で正確な X 線選択およびフィルタリング装置であり、X 線回折実験に重要な技術的サポートを提供します。

X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、サンプル位置の正確な調整と固定に使用される重要なコンポーネントです。サンプルは自身の平面内で回転できるため、粗い粒子によって生じる誤差を軽減できます。テクスチャと結晶構造を持つサンプルの場合、回転サンプル ホルダーにより、回折強度の再現性が確保され、優先配向が排除されます。 回転サンプルホルダーの動作原理: X 線回折計が作動すると、X 線源によって生成された高エネルギー X 線が、回転するサンプル ステージ上に固定されたサンプルに照射されます。サンプルの特定の結晶構造と格子定数により、X 線はサンプルと相互作用する際に散乱、吸収、回折現象を起こし、ブラッグ方程式の要件に従って回折現象が発生します。 回転サンプルホルダーは設定に応じてより小さな角度で回転することができ、サンプルは異なる角度でX線照射を受けることができ、それによって異なる角度での回折パターンを得ることができます。このようにして、検出器はサンプル回折後のX線強度を測定し、それを電気信号に変換してコンピュータに送信し、データ処理することができます。 回転サンプルホルダーの主な機能は次のとおりです。 回転方法: β軸(サンプル面) 回転速度: 1~60RPM 小さなステップ幅: 0.1 º 動作モード: サンプルスキャン用の定速回転(ステップ、連続) 回転サンプルホルダーの利点: 回転サンプルホルダーは回折データの精度を向上できます。粉末や粒子の形状が不規則なサンプルの場合、従来の粉末サンプルの準備中に優先配向の特性が発生しやすく、回折強度の分布に偏差が生じ、回折結果の分析精度に影響します。サンプルステージを回転すると、適切な空間内でサンプルを一定の形で移動できるため、優先配向の影響をある程度排除でき、回折データの精度が向上します。 回転サンプルホルダーは、さまざまなテストニーズに適応できます。垂直角度測定器、低電力コンパクト粉末回折装置など、さまざまな種類のX線回折角度測定器に適応でき、さまざまなテストニーズに便利です。また、回転サンプルホルダーは、速度やステアリングなどのパラメータを調整することで、さまざまなサンプルとテスト条件の要件を満たすことができます。 回転サンプルホルダーは、機器の分析機能を拡張できます。新しいタイプの回転サンプルステージが絶えず開発され、適用されています。たとえば、さまざまな環境や条件での材料の変化をリアルタイムで監視および分析できる で 場所 電気化学 X 線回折分析用のサンプルステージなどです。これにより、X 線回折装置の分析機能が拡張されます。 要約すると、X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、物質の結晶構造情報を正確に取得するために不可欠です。回転サンプル ホルダーは、回折データの精度を向上させるだけでなく、さまざまなテストのニーズに適応し、機器の分析機能を拡張することもできます。

X 線回折計では、多機能統合測定アクセサリが、機器の機能性と柔軟性を大幅に向上させる重要なコンポーネントです。ボード、ブロック、基板上のフィルムの分析に使用され、結晶相検出、配向、テクスチャ、応力、薄膜の面内構造などのテストを実行できます。 多機能統合計測アクセサリの基本概要: 定義: 機器の機能を拡張し、測定の精度と効率を向上させるために、X 線回折計で使用される一連の追加デバイスまたはモジュールの総称です。 目的: これらのアタッチメントは、X 線回折計がより幅広い実験ニーズを満たし、より包括的で正確な材料構造情報を提供できるようにすることを目指しています。 多機能統合計測アクセサリの機能特性: 透過法または反射法を使用して極図テストを実行します。 ストレステストは、平行傾斜法または同一傾斜法のいずれかを使用して実施できます。 薄膜試験（サンプルの面内回転）。 多機能統合計測アクセサリの技術的特徴: 高精度: 通常、高度なセンシング技術と制御システムを使用して、測定の高精度と再現性を保証します。 自動化: 多くのアタッチメントが自動操作をサポートしており、X 線回折計ホストとシームレスに統合してワンクリック測定を実現できます。 モジュラー設計: ユーザーは実際のニーズに応じてさまざまなアクセサリ モジュールを選択して組み合わせることができます。 多機能統合計測アクセサリの応用分野: 材料科学、物理学、化学、生物学、地質学などの分野で広く使用されています。 圧延板などの金属組立構造の評価。 セラミック配向の評価 薄膜サンプルにおける結晶優先配向の評価。 各種金属・セラミック材料の残留応力試験（耐摩耗性、耐切削性等の評価） 多層フィルムの残留応力試験（フィルム剥離等の評価） 薄膜や金属板などの高温超伝導材料の表面酸化膜や窒化膜の分析。 ガラスSi、金属基板上の多層膜（磁性薄膜、金属表面硬化膜など）の解析。 高分子材料、紙、レンズなどの電気めっき材料の分析。 X線回折計の多機能統合測定アクセサリは、機器の性能を向上させる鍵です。機器の機能を強化するだけでなく、測定の精度と効率も向上し、研究者により包括的で詳細な材料分析方法を提供します。技術の継続的な進歩に伴い、これらのアタッチメントは、関連分野の科学研究を促進し、さらなる進歩を達成する上で重要な役割を果たし続けます。

回折計の高温アクセサリは、高温条件下でサンプルのX線回折分析を実行できる追加装置です。高温加熱中のサンプルの結晶構造の変化や、高温加熱中のさまざまな物質の相互溶解の変化を理解します。 高温アクセサリの動作原理: 抵抗加熱、誘導加熱、輻射加熱などの方法を使用して、サンプルを設定温度範囲内で加熱します。同時に、高精度の温度センサーと制御システムを備えており、サンプルの温度をリアルタイムで監視および調整し、温度の安定性と精度を確保します。温度制御精度は±0.5℃以上に達することがあります。高温でのサンプルの安定性を維持し、空気中の酸素との反応を防ぐために、高温アクセサリには通常、雰囲気保護システムが必要です。一般的な雰囲気には、アルゴン、窒素などの不活性ガスが含まれます。雰囲気制御システムは、雰囲気の流量と圧力を正確に制御し、サンプルに安定した実験環境を提供します。 高温アクセサリの主な機能は次のとおりです。 高温環境でのサンプルの相転移、化学反応、結晶構造の変化などのプロセスをリアルタイムで監視し、異なる温度での物質の構造と特性に関する情報を得ることができます。回折ピークの位置、強度、形状を分析することで、サンプルの結晶セルパラメータ、結晶構造、相組成などの情報を取得し、各成分の含有量を正確に測定できます。化学反応の速度、メカニズム、拡散挙動を研究します。たとえば、高温反応中の触媒の構造変化を観察し、活性中心の形成と消失を理解し、触媒の性能を最適化します。 高温アクセサリの適用分野： 高温超伝導材料、金属合金、セラミック材料などの異なる温度での相転移、結晶構造の進化、および性能の変化を研究するために使用され、材料の設計と準備の基礎を提供します。触媒の構造変化や高温触媒反応における活性中心の進化の研究など、化学反応中の物質の変化を監視することは、効率的な触媒の開発に役立ちます。磁性、電子構造、温度との関係など、高温での物質の物理的特性を研究し、新しい物理現象と法則を探ります。 高温アクセサリの技術的パラメータ: 温度設定：不活性ガス雰囲気中、室温～1200℃ 真空環境：1600℃の高温 温度制御精度:±0.5℃ 窓素材: ポリエステルフィルム 冷却方式：脱イオン水循環冷却 要約すると、回折計の高温アクセサリは、高温条件下でサンプルのX線回折分析を実行できる重要な試験ツールであり、材料科学、化学工学、物理学などの分野の研究を強力にサポートします。

X線回折計の多機能サンプルホルダーは、サンプルを配置および固定するための装置であり、複数の機能と特徴を備えています。微量の粉末サンプルだけでなく、シート状、大型、不規則、切断または粉砕できないサンプルもテストできます。 多機能サンプルホルダーのサンプル固定とサポート: サンプルホルダーはサンプルをしっかりと固定し、X 線回折中にサンプルが安定した状態を保ち、サンプルの動きによって回折データの精度と信頼性が影響を受けるのを防ぎます。 多機能サンプルホルダーの高さと角度の調整：高さと角度を調整する機能があり、さまざまなサンプルのサイズ、形状、検出要件に応じて、サンプルとX線管と検出器間の距離と相対角度を柔軟に調整して、最良の回折効果を得ることができます。 多機能サンプルホルダー回転機能：一部のサンプルテーブルは回転可能で、サンプルはさまざまな角度でX線照射を受けることができ、さまざまな角度からより多くの回折情報を取得できるため、サンプルの結晶構造と配向を総合的に分析するのに役立ちます。 多機能サンプルホルダーの適応: 固体、液体、粉末などのさまざまな種類のサンプルに適応できます。さまざまなサンプル固定具やアクセサリを交換することで、さまざまなサンプルのテスト要件を満たすことができます。 多機能サンプルホルダーの環境制御: 一部の高度なサンプルホルダーには、特定の温度、湿度、雰囲気などの条件下でサンプルをテストして、さまざまな環境がサンプルに与える影響をシミュレートできる環境制御システムも装備されており、X 線回折計の適用範囲がさらに広がります。 X 線回折計の多機能サンプルホルダーは、強力で柔軟性があり、多用途な補助装置であり、X 線回折実験の精度と効率を向上させる上で非常に重要です。

平行光学フィルム測定アクセサリは、薄膜の信号強度を高め、基板信号が測定結果に与える影響を減らすために使用される光学部品です。通常、光学実験または機器で使用され、主に平行ビームを生成したり、薄膜サンプルの光学測定を行ったりします。格子の長さを長くすることで、より正確な光の制御とフィルタリングを実現できます。光が通過すると、格子板はより多くの散乱線をフィルタリングして、透過光をより純粋で集中させることができます。これにより、散乱光が薄膜信号に干渉することが少なくなり、薄膜自体の信号強度が向上し、測定の精度と信頼性が向上します。 1. 平行光学フィルム測定アクセサリの主な機能 測定精度の向上：薄膜の厚さ測定、光学定数の決定など、薄膜関連の検出と分析において、平行光薄膜アタッチメントは基板信号の影響を効果的に低減し、測定結果を薄膜の真の特性により近づけ、測定精度と正確性を向上させます。 信号強度の強化: 薄膜によって反射または透過される光信号の強度を高めるのに役立ちます。これは、信号が弱い一部の薄膜サンプルにとって特に重要です。強化された信号は検出器によってより明確に受信および認識され、検出限界が下がり、薄膜サンプルを検出するための機器の感度が向上します。 画質の向上: 顕微鏡下で薄膜の表面形態を観察するなど、薄膜の画像観察が必要な一部のアプリケーションでは、平行光薄膜アタッチメントを使用すると、散乱光による背景ノイズやぼやけが軽減され、薄膜の画像がより鮮明でコントラストが高くなり、薄膜の詳細な構造の観察や分析が容易になります。 2. 平行光学フィルム測定アクセサリの主な構成 光源: 通常は、レーザー、導かれた、またはその他の単色光源が使用されます。 コリメータレンズ：発散光線を平行光に変換します。 サンプルスタンド: フィルムサンプルを配置するために使用され、通常は位置と角度を調整できます。 検出器: 測定および分析のために透過光または反射光信号を受信するために使用されます。 3. 平行光学フィルム測定アクセサリの応用分野 光学研究: 干渉、回折など、薄膜の光学特性を研究するために使用されます。 材料科学: 薄膜の厚さと屈折率を測定し、材料特性を評価するために使用されます。 工業テスト: フィルム製造における品質管理とテストに使用されます。 4. 平行光学フィルム測定アクセサリの説明書 光源を調整します。光源が安定しており、ビームが均一であることを確認します。 平行ビーム: コリメートレンズを通して光線を調整し、平行にします。 サンプルを配置する: フィルムサンプルをサンプルステージに置き、位置と角度を調整します。 測定と分析: 検出器を使用して光信号を受信し、データを記録し、分析を実行します。 5. 注意事項 光源の安定性: 測定誤差を避けるために光源の安定性を確保します。 光学部品のクリーニング: 測定結果に影響するほこりや汚れを避けるために、光学部品を清潔に保ってください。 サンプルの準備: 正確な測定結果を得るために、フィルム サンプルが均一で欠陥がないことを確認します。 要約すると、平行光学フィルム測定アクセサリは、複数の分野で重要な役割を果たし、関連分野における科学研究と技術進歩を促進する上で大きな意義を持つ重要な光学部品です。

X 線回折計の中低温アクセサリは、低温環境での X 線回折分析に使用される重要なコンポーネントです。中低温アクセサリは、材料科学、物理学、化学などの分野の研究開発作業で広く使用されており、さまざまな温度条件下での材料の構造分析が必要なシナリオに特に適しています。 低温冷凍プロセス中の結晶構造の変化を理解するために、中低温アクセサリの技術的パラメータは次のとおりです。 真空環境：196〜500℃ 温度制御精度:±0.5℃ 冷却方法：液体窒素（消費量4L/h以下） 窓素材: ポリエステルフィルム 冷却方式：脱イオン水循環冷却 つまり、X線回折計の中低温アクセサリは、科学研究と材料分析を強力にサポートできる重要な機器コンポーネントです。回折計の中低温アクセサリは、材料構造分析の分野における重要なツールの1つであり、幅広い応用展望と重要な研究価値があります。回折計の中低温アクセサリは、低温条件下での機器の正常な動作と正確な測定を確保するための重要なコンポーネントです。その設計と性能は、実験結果の精度と信頼性に直接影響します。中低温アクセサリを選択して適用するときは、実験要件、サンプル特性、アクセサリの技術的パラメータと性能特性を十分に考慮して、最良の実験結果を確保する必要があります。

X 線照射装置は、高エネルギー X 線を発生させて対象物や生物組織に照射します。X 線の発生は、通常、加速された電子が金属ターゲット (タングステン、銅など) に衝突して制動放射線を発生させ、X 線ビームを形成し、細胞や小動物に照射することによって実現されます。X 線照射装置は、さまざまな基礎研究や応用研究に使用されます。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。しかし、今日では、より小型で安全、シンプル、低コストの X 線照射装置を実験室に設置して、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。さまざまなサンプルを、生殖能力や安全性に影響を与えることなく、実験室で直接照射することができます。X 線照射装置は、専門的な X 線のトレーニングを受けていない人でも使用でき、高価なライセンス申請や安全性や放射線源のメンテナンス費用もかかりません。 X 線照射装置は操作が簡単で、安全で信頼性が高く、コスト効率に優れており、放射性同位元素源を置き換えることができます。 1. X線照射装置の主な応用分野には、医療分野、科学研究分野などが含まれます。 2. X線照射装置の安全上の注意事項： 放射線防護: 作業者は、X 線への長時間の被曝を避けるために防護服を着用する必要があります。 機器のメンテナンス: 機器が正常に動作していることを確認し、放射線漏れを防ぐために定期的に検査します。 線量管理：サンプルや人体への不必要な害を避けるために、照射線量を厳密に管理します。