でX線回折計、多機能統合測定で アクセサies は 機器の機能性と柔軟性を大幅に向上させる重要なコンポーネントです。ボード、ブロック、基板上のフィルムの分析に使用され、結晶相の検出、配向、テクスチャ、応力、薄膜の面内構造などのテストを実行できます。

基本的な概要多機能統合測定で アクセサies:

定義: 彼らは は 使用される一連の追加デバイスまたはモジュールの総称。X線回折計機器の機能を拡張し、測定精度と効率を向上させます。

目的: これらの添付ファイルは、X線回折計より幅広い実験ニーズを満たし、より包括的かつ正確な材料構造情報を提供します。

の機能特性多機能統合測定で アクセサies:

透過法または反射法を使用して極図テストを実行します。

ストレステストは、平行傾斜法または同一傾斜法のいずれかを使用して実施できます。

薄膜試験（サンプルの面内回転）。

技術的特徴多機能統合測定で アクセサies:

高精度：彼らは 通常、高度なセンシング技術と制御システムを使用して、測定の高精度と再現性を確保します。

自動化: 多くのアタッチメントは自動化された操作をサポートしており、X線回折計ワンクリック測定を実現するホスト。

モジュラー設計: ユーザーは実際のニーズに応じてさまざまなアクセサリ モジュールを選択して組み合わせることができます。

応用分野多機能統合測定で アクセサies:

材料科学、物理学、化学、生物学、地質学などの分野で広く使用されています。

圧延板などの金属組立構造の評価。

セラミック配向の評価

薄膜サンプルにおける結晶優先配向の評価。

各種金属・セラミック材料の残留応力試験（耐摩耗性、耐切削性等の評価）

多層フィルムの残留応力試験（フィルム剥離等の評価）

薄膜や金属板などの高温超伝導材料の表面酸化膜や窒化膜の分析。

ガラスSi、金属基板上の多層膜（磁性薄膜、金属表面硬化膜など）の解析。

高分子材料、紙、レンズなどの電気めっき材料の分析。

の多機能統合測定で アクセサies  でX線回折計 は 機器の性能を向上させる鍵です。機器の機能を強化するだけでなく、測定の精度と効率も向上し、研究者により包括的で詳細な材料分析方法を提供します。技術の継続的な進歩に伴い、これらのアタッチメントは、関連分野の科学研究を促進し、さらなる進歩を達成する上で重要な役割を果たし続けます。