X線吸収微細構造分光計（XAFS）は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気の分野で広く使用されています。

基本原則X線吸収微細構造分光計（XAFS） X線のエネルギーが試料中の元素の内電子殻のエネルギーと共鳴すると、急激な電子増加が励起され、吸収端と呼ばれる連続スペクトルが形成される。吸収端付近では、X線エネルギーが増加すると、X線の侵入深さが増すにつれて吸収率が単調に減少する。特定の吸収端を超えてスペクトルを拡張すると、微細構造が観測され、20～30電子ボルトを超える幅のピークとショルダーが吸収端の起点を通過するとすぐに、X線吸収近傍端構造（ザネス）領域が現れる。吸収端の高エネルギー側、エネルギーが数百電子ボルトまで減衰する微細構造は、X線吸収微細構造（XAFS）と呼ばれる。

の主な特徴X線吸収微細構造分光計（XAFS） は：

短距離秩序への感度：短距離秩序に依存し、長距離秩序に依存しないため、幅広いサンプルの測定が可能です。非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心、金属タンパク質などに加え、結晶中の不純物原子の構造研究にも使用できます。

強い元素特性：X線吸収端には元素特性があり、サンプル内の異なる元素の原子については、入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子隣接構造を調べることができます。

高感度: 蛍光法は、100万分の1という低濃度の元素サンプルの測定に使用できます。

構造情報の包括的な取得：吸収原子と隣接原子間の距離、これらの原子の数と種類、吸収元素の酸化状態など、局所構造を決定するパラメータを提供できます。

サンプルの準備は簡単で、単結晶は不要です。また、実験条件下ではデータ収集時間も比較的短くなります。シンクロトロンX線源を使用すれば、スペクトル線の測定には通常数分しかかかりません。

の主な利点はX線吸収微細構造分光計（XAFS） は：

コアの利点：最高の光束製品

100万光子/秒/eVを超える光子束、他の製品よりも数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現

優れた安定性：

光源の単色光強度の安定性は0.1％以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。

1%検出限界:

高い光束、優れた光路最適化、および優れた光源安定性により、測定される元素含有量が 1% の場合でも、高品質の EXAFS データを取得できます。

4. 応用分野X線吸収微細構造分光計（XAFS） ：

エネルギー分野：リチウム電池やその他の二次電池材料の研究、燃料電池の研究、水素貯蔵材料の研究など。XAFS は、充放電サイクルおよび電気化学反応中の中心原子の濃度、価数状態、配位環境、および動的変化を取得するために使用できます。

触媒分野：ナノ粒子触媒、単原子触媒などの研究に用いられます。XAFSにより、担体上の触媒の形態、担体との相互作用形態、触媒プロセス中の変化、および極微量の金属イオンの近傍構造を取得します。

材料科学の分野では、X線吸収微細構造分光計（XAFS） さまざまな材料の特性評価、複雑系および無秩序構造材料の研究、放射性同位体の研究、表面および界面材料の関連特性の研究、および材料の動的変化の研究に使用されます。

地質学の分野では、X線吸収微細構造分光計（XAFS） 地質学的研究における鉱石材料の元素価数状態分析に使用できます。

環境分野：XESはCr/As元素などの価数状態分析に使用できます。

放射化学の分野では、X線吸収微細構造分光計（XAFS） セ、U元素などの価数状態分析に使用できます。

そのX線吸収微細構造分光計（XAFS） 独自の動作原理、優れた特性、そして幅広い応用分野により、現代科学研究において重要な役割を果たしています。物質の微細構造や化学状態をより深く理解するための強力な手段を提供し、複数の学問分野の発展と進歩を促進しています。