残留応力は、材料や部品の寸法安定性、耐応力腐食性、疲労強度、相変化、その他の特性に大きな影響を与えます。その測定には、学界と産業界が広く関心を持っています。

最近、新しい研究により金属酸化物とゼオライト A の融合に成功し、XRD および FTIR 技術を通じてこのプロセスの謎が明らかになりました。

XRD は X 線回折の略で、物質を扱う人にとって、どのような物質が作成されたとしても、XRD は最も一般的に使用され、最も基本的な特性評価手段です。

X 線吸収微細構造 (XAFS) は、放射光光源に基づいて材料の局所的な原子または電子構造を研究するための強力なツールです。

非常に細いX線のビームがナノメートルサイズの不均一な電子密度を持つ物質を通過すると、X線は元のビームの方向に近い小さな角度領域に広がります。この現象は小角X線と呼ばれます- 光線散乱。

小角 X 線散乱は、元のビームに近い小角度範囲における X 線に対する電子の拡散散乱です。小角散乱は、ナノメートルスケールで電子密度が不均一なすべての材料で発生します。

小角 X 線回折 (SAXD) は、主に非常に大きな結晶面の間隔や薄膜の構造を決定するために使用されます。

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X 線を使用して、主に結晶内の X 線回折現象を通じて結晶の構造を研究します。