X線吸収微細構造スペクトル（ゼフ）物質の構造と特性を研究するために使用される分析ツールです。HAFS特定のエネルギー範囲内でのサンプルのX線吸収を測定することにより、サンプル内の原子と分子に関する情報を取得します。HAFS物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールです。HAFSこの技術は、材料科学、化学、生物学などの分野で広く利用されており、特に触媒、電池、センサーなどの研究分野で利用されています。HAFS重要な応用価値を持っています。HAFSこの技術により、研究者はサンプルの微細構造と特性をより深く理解できるようになり、新しい材料の設計と最適化を強力にサポートします。