X線単結晶回折計 主に無機、有機、金属錯体などの結晶性物質の3次元空間構造と電子雲密度を決定し、双晶、非整合結晶、準結晶などの特殊物質の構造を解析するために使用されます。新しい化合物（結晶）分子の正確な3次元空間（結合長、結合角、配置、コンフォメーション、さらには結合電子密度を含む）と格子内の分子の実際の配置を決定します。単結晶X線回折計 結晶セルパラメータ、空間群、分子構造、分子間水素結合、弱い相互作用に関する情報、および分子配置や立体配座などの構造情報を提供できます。単結晶 X線回折化学結晶学、分子生物学、薬理学、鉱物学、材料科学の分析研究に広く使用されています。

単結晶XRD 高精度です:

2θ角度繰り返し精度：0.0001°

最小ステップ角度: 0.0001°;                             

温度制御範囲:100K-300K

制御精度: ±0.3K

単結晶角度測定器は4つの同心円状の走査円を選択する。

単結晶XRD低温構成を採用。

同社の技術担当者は、海外の単結晶 X線回折計テスト結果は海外のユーザーに大いに満足していただきました。同時に、機器の機能性、安定性、アフターサービスも海外のユーザーから満場一致で賞賛されました。

全体、 X線単結晶回折計さまざまな分野の研究と応用において重要な科学機器としてかけがえのない役割を果たしています。技術の継続的な進歩と革新により、将来的には単結晶X線回折 より多くの分野で独自の価値と可能性を発揮します。