X線吸収微細構造分光計 は、材料の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの一般的な分野で広く使用されています。
HAFS 主な利点:
最高光束製品:
1000000光子/秒/eVを超える光子束、他の製品より数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現
優れた安定性：
光源の単色光強度の安定性は0.1%以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。
1%検出限界:
高い光束、優れた光路最適化、優れた光源安定性により、測定元素含有量が 1% の場合でも高品質の エグザフ データが得られます。
1.
機器の原理
2.テストデータ
3.測定可能な要素：緑色の部分はK側を測定でき、黄色の部分はL側を測定できます
4.応用分野
