X 線回折は回折源として単色 X 線を使用し、一般に固体を透過します。 X 線回折により、材料のバルク相構造情報が得られます。
X 線回折は主に定性的な相分析に基づいていますが、定量的な分析も行うことができます。 X線を比較することで、サンプルの相組成を定性的に分析できます。回折測定するサンプルのスペクトルを標準物質のスペクトルと比較します。試料の回折強度データを解析・計算することで、試料の相組成の定量分析が完了します。
による バツ-レイ回折パターンの情報により、サンプルが非晶質か結晶質かを判断できます。サンプルの結晶化度を定性的に知ることができます。標準スペクトルと比較することで、測定サンプルがどの相で構成されているかを知ることができます。
X 線回折は、構造研究の重要な方法として、触媒材料やその他の材料の研究に非常に重要な用途を持っています。X線回折この技術には、非破壊で測定精度が高いという利点があり、結晶の完全性に関する多くの情報を取得できます。