の TD-3700高解像度X線回折計TD-3500のすべての利点を備えたX線回折計高性能アレイ検出器を搭載。シンチレーション検出器や比例検出器に比べ、回折計算強度を数十倍に高めることができ、高感度化を実現。高解像度回折より短いサンプリング期間で、パターンとより高いカウント強度が得られます。

のTD-3700高解像度X線回折計従来の回折データスキャンと透過データスキャンの両方の方法をサポートしています。透過モードの解像度は回折モードよりもはるかに高く、構造解析などの分野に適しています。回折モードは回折信号が強く、実験室での日常的な相識別に適しています。また、透過モードでは粉末サンプルを微量にすることができるため、サンプルサイズが比較的小さく、サンプル準備のための回折法の要件を満たしていない場合のデータ取得に適しています。