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この手順は独自に開発された手順です。回折理論に基づいた積分強度計算による独自開発の多彩な定量解析機能を搭載しています。

一部の「XRD データを分析および処理するための ジェイド ソフトウェア」関連コンテンツ。

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X 線回折は最も効果的で最も広く使用されている手段であり、X 線回折は物質の微細構造を研究するために人間が使用した最初の方法です。

X線は、ドイツの物理学者WKによって開発された、紫外線とガンマ線の間の短波長の電磁放射線の一種で、1895年にレントゲンによって発見されたため、レントゲン線とも呼ばれます。

X線回折装置は主に、粉末、ブロックまたは薄膜サンプルの相特性評価、定量分析、結晶構造分析、材料構造分析、結晶配向分析に使用されます。