X 線吸収微細構造分光計は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気分野で広く使用されています。
XAFS コアの利点:
最高光束製品:
1000000光子/秒/eVを超える光子束、他の製品より数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現
優れた安定性:
光源の単色光強度の安定性は0.1%以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。
1%検出限界:
High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。