X線吸収微細構造（XAFS）

主な利点：

最高光子束: 当社の製品は、400万光子/秒/eVを超える光子束を実現し、同等のシステムと比較して数倍高いスペクトル取得効率を提供します。これにより、シンクロトロン放射光源に匹敵するデータ品質が可能になります。

卓越した安定性： 本装置は、単色光強度の安定性が非常に優れており、変動は0.1%未満です。繰り返し測定時のエネルギードリフトは、50 meV未満に維持されます。

1％検出限界： 高フラックス、優れた光路最適化、そして卓越した光源安定性の組み合わせにより、元素濃度が1%という低濃度であっても、高品質のEXAFSデータを取得することが可能になります。

計測原理：

X線吸収微細構造（XAFS）分光計は、物質の局所的な原子構造および電子構造を調査するための強力なツールです。触媒、エネルギー研究、ナノサイエンスなど、さまざまな主要分野で幅広く応用されています。

実験室用モノクロメーター XES 試験ジオメトリ

実験室用モノクロメーターXAFS試験ジオメトリ

マンガン（Mn）データおよびMn K端XAFSデータ：シンクロトロン放射光源の品質と一致

鉄（Fe）試料のKβ発光スペクトルデータ：コア間XESおよび価電子-コア間XES

テストデータ

箔EXAFSデータ

アプリケーション

このXAFS分光計は幅広い用途があり、顧客が複数の分野で画期的な成果を上げることを可能にします。

新エネルギー分野：燃料電池、水素貯蔵材料、リチウムイオン電池などの研究に用いられ、触媒反応過程における中心原子の価数状態や配位環境の動的な変化を分析できる。

工業触媒：ナノ粒子触媒や単原子触媒などの研究分野に適用可能です。担体上の触媒の形態や、担体材料との相互作用を特性評価できます。

材料科学：様々な材料の特性評価、複雑なシステムや不規則構造の研究、表面および界面材料の特性の調査などに用いられる。

環境科学：土壌や水などの試料中の重金属汚染を分析し、元素の価数状態や濃度を決定するために利用できる。

生体高分子：金属生体分子中の金属中心周辺の局所的な原子構造を研究するために使用できる。。

私たちについて

2013年以来、通達科技は中国科学院の陳暁明院士率いる研究グループと戦略的パートナーシップを構築してきました。共同で設立された専門家ワークステーションは、同社がX線分析分野での存在感を継続的に深めるための強固な研究基盤を提供してきました。科学技術部が主導する主要科学機器開発プロジェクトの主契約者として、同社は中山大学や中国科学院瀋陽計算技術研究所を含む7つの研究機関と8年以上にわたり協力してきました。2021年には、完全な独自知的財産権を持つ国内初のX線単結晶回折計を発売し、この分野における長年の輸入機器への依存を打破しました。

人材構成においては、社内の研究開発担当者の割合が30%に達し、業界平均を大きく上回っています。知的財産に関しては、現在までに23件の特許と7件のソフトウェア著作権を保有しています。製品ポートフォリオの観点からは、TDシリーズ回折計、卓上型回折計、蛍光X線分光計、単結晶回折計、結晶方位測定装置、結晶解析装置など、包括的なX線分析機器製品群を確立しています。

技術統合の面では、Tongda AI全自動回折計は人工知能とロボット技術を深く統合しています。この装置には高精度ロボットアームが搭載されており、粉末、薄膜、バルク材料など、様々な種類のサンプルを自動的に取り出し、試験することができます。モバイルアプリを介して遠隔操作が可能で、自動ドア開閉システムにより、操作中の安全性と利便性が大幅に向上しています。モジュール構造により、将来の機能拡張やメンテナンスのアップグレードにも十分な柔軟性を提供します。