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XAFS分光計は、4M光子/秒/eVを超える光束でシンクロトロンレベルのデータ品質を実現し、<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.

1.XAFS は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールです。 2.XAFSの応用分野：工業用触媒、ナノ材料、品質分析、重元素分析など 3.XAFS製品の利点：超高解像度（最低0.5eV）、蛍光パターン（低含有量、高バックベース）、超高光束、超低検出限界（最低0.3〜0.5％、10.1039 / D2CC05081A）