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携帯型X線残留応力解析装置は、X線回折技術に基づいた非破壊検査装置です。金属やプラスチックなどの材料の表面および表面近傍の残留応力分布を測定するために主に使用され、高精度と現場での適用性を兼ね備えています。

XAFS分光計は、4M光子/秒/eVを超える光束でシンクロトロンレベルのデータ品質を実現し、<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.

透過法または反射法を用いたポーラログラフ試験。応力試験は傾斜法または同様の傾斜法を用いて実施できます。薄膜試験（サンプルの面内回転）

1. 最大出力電力：1200W 2. 検出器の種類: アレイ検出器またはSDD検出器。このモードでは、すべてのタイプの検出器に対応できます。 3. PLCの自動制御計算、積分方式変換、PLCによるPHAの自動実行、むだ時間補正

1. 検出器の種類：アレイ検出器またはSDD検出器。 2. PLC自動制御計算、積分モード変換、PLCはPHA、デッドタイム補正を自動的に実行します 3.サンプル測定タイプ：粉末サンプル、液体サンプル、溶融状態サンプル、粘性サンプル、ルースパウダー、バルク固体サンプル 4. さまざまな回折計アクセサリが利用可能 5.最大出力粉末：3kW

AI搭載全自動X線回折計は、ポータブル回折計をベースにロボットアームの高精度操作を深く統合しています。従来の回折計と比較して、手動操作を大幅に削減し、高スループットと高再現性試験が求められる研究開発現場に最適です。携帯電話やアプリによる遠隔操作が可能で、自動ドア開閉技術も備えています。さらに、自律的なサンプリング・分析機能も備え、精度と利便性を兼ね備えています。

1.XAFS は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールです。 2.XAFSの応用分野：工業用触媒、ナノ材料、品質分析、重元素分析など 3.XAFS製品の利点：超高解像度（最低0.5eV）、蛍光パターン（低含有量、高バックベース）、超高光束、超低検出限界（最低0.3〜0.5％、10.1039 / D2CC05081A）

丹東通達の小角回折アクセサリは、ナノ多層膜の厚さ（0°～5°の範囲）を高精度に測定します。TDシリーズ回折計と完全に互換性があり、プラグアンドプレイの利便性と0.0001°単位の再現性を実現し、新エネルギーや半導体分野の研究を支援します。

これは、X 線回折計の使用に備えられた、回折計の付属品の一種です。 炭素、酸素、窒素、硫黄、金属インターカレーションなどを含む電気化学システムに広く使用されています。

1. 名称：ファイバーアクセサリー 2. 機能：繊維の特殊な結晶構造を決定し、繊維の結晶化度と半ピーク幅に応じてサンプルの方向を決定します。