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TD-3700 X線回折計はTDシリーズの新製品で、高速1次元アレイ検出器、2次元検出器、SDD検出器などのさまざまな高性能検出器を搭載しています。高速分析、便利な操作、ユーザーの安全性を統合しています。モジュール式ハードウェアアーキテクチャとカスタマイズされたソフトウェアシステムは完璧な組み合わせを実現し、故障率が非常に低く、耐干渉性能が良好で、高電圧電源の長期にわたる安定した動作を保証します。 TD-3700 X 線粉末回折計は、従来の回折データ スキャン方式と透過データ スキャン方式の両方をサポートします。 TD-3700 X線粉末回折計は、TD-3500 X線回折計のすべての利点を備え、高性能検出器を搭載しています。シンチレーション検出器や比例検出器と比較して、回折計算強度を数十倍に高めることができ、より短いサンプリング期間で完全な高感度、高解像度の回折パターンとより高い計数強度を得ることができます。
X線回折は単結晶回折と粉末回折の2種類に分けられ、単結晶は主に分子量や結晶構造の決定に使用され、粉末は主に結晶物質の同定や純度の確認に使用されます。
医薬品開発の過程では、薬物結晶粉末の特性と構造が有効性と安全性において重要な役割を果たします。X 線回折 (XRD) 技術の応用は強力なツールを提供します。