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Tongdaは、触媒や無機充填剤の結晶構造解析をワンストップで行える多機能X線回折計を発表しました。このシステムは、複数の機器を必要とせず、統合された光路、汎用性の高いサンプルステージ、カスタマイズ可能な位相データベースを備えています。複雑な粉末混合物でも高精度な定量分析が可能です。ISO-9001およびCE認証を取得しており、英語インターフェースとリモートサポートも提供しています。海外の触媒メーカーにも既に採用されています。詳細は公式サイトをご覧ください。

X線回折（XRD）は、セメント、金属、化学薬品、半導体、医薬品など、幅広い材料において、非破壊的な相分析、結晶度定量、残留応力測定を可能にします。これにより、エンドツーエンドの品質管理を支援し、欠陥の削減とコンプライアンスの確保を実現します。卓上型および高分解能システムが、生産現場や研究室での使用向けに提供されています。

X線結晶構造解析装置は、ブラッグの法則による回折を利用して原子構造を明らかにします。金属、半導体、生体分子の解析に不可欠です。結晶配列、欠陥、応力などをマッピングします。研究開発、半導体品質管理、医薬品設計、ナノ材料など幅広い分野で活用されています。最新の装置は、より高速な検出器とシンプルなソフトウェアを備えています。科学と産業の両分野において不可欠なツールです。

結晶は、その規則性と対称性で長い間賞賛されてきましたが、17 世紀まで科学的に研究されることはありませんでした。結晶学の初期の歴史を見てみましょう。

X 線結晶構造解析は、結晶の原子および分子構造を決定するために使用される技術であり、結晶構造によって入射 X 線ビームが多くの特定の方向に回折されます。

X線回折装置は主に、粉末、ブロックまたは薄膜サンプルの相特性評価、定量分析、結晶構造分析、材料構造分析、結晶配向分析に使用されます。