X線回折装置主に相の特性評価、定量分析、結晶構造解析、材料構造分析、粉末、ブロックまたは薄膜サンプルの結晶方位分析。巨視的応力測定、結晶粒径測定、結晶化度測定など
TD-3700 回折計サンプル分析マップ表示:
1. SI 粉末 (埋め込み画像 111 単峰倍率)
注: TD-3700 のスキャン時間は通常の回折計より 10 分の 1 であり、スキャン効率が向上し、時間を節約できます。。
2. SiO2 の全スペクトル (埋め込み画像: 5 フィンガー ピークの局所増幅)
&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意;TD-3700 (マイセン検出器) VS TD-3500 (シンチレーション検出器)）
3.Si粉末サンプルの回折データの単一ピークの比較
注: TD-3700 は、通常の回折装置に比べて、より高いピーク強度、より高い分解能、より小さなピーク半値幅を得ることができます。
4.Al2O3回折スペクトル
