X線方位分析装置
1.サンプルテーブルには、最大1kgまで測定できる直径6インチ(最大8インチ)の耐荷重トラックが装備されています。
2. 真空吸引カップ装置がサンプルテーブルに取り付けられています。
3. 用途: 天然および人工単結晶の切断角度を正確かつ迅速に決定します。
- Tongda
- 中国、遼寧省
- 1~2ヶ月
- 年間100台
- 情報
X 線配向分析装置の紹介:
自動X線配向装置は、X線回折の原理を利用して、天然および人工の単結晶(圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶)の切断角度を正確かつ迅速に決定します。上記結晶の方向性切断に使用できる切断機と組み合わせます。自動X線定位装置水晶デバイスの精密加工・製造には欠かせない装置です。自動X線定位装置結晶材料の研究、加工、製造に広く使用されています。
X線配向分析装置の利点:
X線配向分析装置TAサンプルテーブル:
丸棒結晶に基づいて設計されたサンプルステージには、1 ~ 30 kg、直径 2 ~ 6 インチ (8 インチまで増加可能) を測定できる耐荷重トラックとサンプルステージ上の真空吸引装置が付いています。 。このタイプのゴニオメータは、棒状結晶の基準面を測定し、またウェハの表面も測定します。
X 線配向分析装置 結核 サンプル テーブル:
丸棒結晶に従って設計されたサンプルステージには耐荷重トラックが装備されており、V 字型のサポートレールが装備されています。重さ1~30kg、直径2~6インチ(8インチまで拡大可能)、長さ500mmのインゴットを測定できます。試料ステージには真空吸着装置が取り付けられています。このタイプのゴニオメータはロッド結晶の端面を測定し、またウェーハの表面も測定します。
X線配向分析装置TCサンプルテーブル:
主にシリコンやサファイアなどの枚葉ウェーハの外周円形基準面の検出に使用されます。吸盤上のX線受光位置はオープン設計を採用し、吸盤によるX線遮蔽や位置ずれの問題を克服し、様々な仕様を満足させます。基準エッジ検出を使用すると、サンプルステージの吸引ポンプが 2 ~ 8 インチのウェーハを吸引することができ、検出がより正確になります。
X線配向分析装置TDサンプルテーブル:
主にシリコンやサファイアなどのウェーハの多点測定に使用されます。顧客の特殊な測定ニーズに合わせて、0°、90°、180°、270°などのサンプルステージ上でウェーハを手動で回転させることができます。
通達海峡
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