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X線吸収微細構造XAFS
XAFS分光計は、400万光子/秒/eV以上のフラックスでシンクロトロンレベルのデータ品質を達成しました。<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
- Tongda
- 中国、遼寧省
- 1〜2ヶ月
- 年間100台
- 情報
| パラメータ | 説明 | |
| 包括的なパフォーマンス | エネルギー範囲 | 4.5～25keV |
| スペクトル取得モード | 伝送モード | |
| サンプルにおける光子束 | シーッ4×10⁶光子/(s·eV) | |
| エネルギー解像度 | ザネス:0.5-1.5eV EXAFS:1.5-10eV | |
| X線パス | 空気吸収を最小限に抑えるヘリウムパージパス | |
| 再現性 | 再現可能なエネルギードリフト < 50 meV | |
| 構造 | デュアルローランドサークル構成により、 XAFS 測定中の光源切り替え用。 単一の専用XAFS X線源を利用して二重X線ビームを生成することで、 このシステムは2つのエネルギー的に単色のX線を提供する デュアルローランドサークルとデュアルモノクロメータを介して。 これにより、2つの金属元素の同時特性評価が可能となる。 同じサンプル内で並列分析が可能 両金属元素の局所原子構造について。 | |
| X線源 | 力 | 2.0 キロワット; 高電圧: 10～40 kV; 電流: 1～50 ミリアンペア |
| ターゲット | W/Moターゲットが標準。その他のターゲット材料はオプションで利用可能 | |
| モノクロメーター | タイプ | 曲率半径500 んん、サイズ102 mmの球状アナライザー結晶 |
| 検出器 | タイプ | 150 んん²のアクティブエリアを備えた大面積SDD |
| 追加構成 | サンプルチェンジャー | 複数のサンプルを連続的に自動テストできる 18 ポジションのサンプルチェンジャー |
| インサイチュサンプルセル | 様々な条件に対応するin situセル：電気触媒、 温度変化、マルチフィジックス場、機械試験 | |
| アナライザークリスタル | 特定元素分析用の特殊結晶モノクロメータ |
主な利点:
最大光子束: 当社の製品は、4,000,000光子/秒/eVを超える光子フラックスを供給し、同等のシステムと比べて数倍高いスペクトル取得効率を実現します。これにより、シンクロトロン放射光源と同等のデータ品質を実現します。
優れた安定性: この装置は、優れた単色光強度安定性を特徴としており、変動は0.1%未満です。繰り返し測定時のエネルギードリフトは50meV未満に維持され、再現性も良好です。
1%検出限界: 高フラックス、優れた光路最適化、および並外れたソース安定性の組み合わせにより、元素濃度が 1% と低い場合でも、高品質の EXAFS データを取得できます。
機器原理:
X線吸収微細構造（XAFS）分光計は、物質の局所的な原子構造と電子構造を調べるための強力なツールです。触媒、エネルギー研究、ナノサイエンスなど、様々な主要分野で広く応用されています。
実験室用モノクロメーターXES試験ジオメトリ
実験室用モノクロメーターXAFS試験ジオメトリ
マンガン（マン）データとMn K端XAFSデータ：シンクロトロン放射源の品質と一致する
鉄（鉄）サンプルのKβ発光スペクトルデータ：コアツーコアXESおよび価数ツーコアXES
テストデータ
フォイルEXAFSデータ
アプリケーション
この XAFS 分光計は幅広い用途に利用されており、クライアントが複数の分野で画期的な進歩を遂げることを可能にします。
新エネルギー：燃料電池、水素貯蔵材料、リチウムイオン電池などの研究に使用されます。触媒プロセス中の中心原子の価数状態と配位環境の動的な変化を分析できます。
工業触媒：ナノ粒子触媒や単原子触媒などの研究分野に適用可能。担体上の触媒の形態や担体材料との相互作用を評価できる。
材料科学: さまざまな材料の特性評価、複雑なシステムや無秩序な構造の研究、表面および界面材料の特性の調査に使用されます。
環境科学: 土壌や水などのサンプル内の重金属汚染を分析し、元素の価数状態と濃度を決定するために利用できます。
生体高分子：金属生体分子の金属中心周辺の局所原子構造を研究するために使用できます。。
