蒸着スケーリングを例として、この論文では定性相分析と定量分析に X 線回折装置を使用する方法を紹介します。

5G、ビッグデータ、人工知能などの新技術や新製品の応用により、半導体市場に巨大な需要がもたらされ、世界の半導体装置支出は上昇サイクルに入っています。

前回は当社のプリセールス、販売、アフターサービスの詳細かつ完全な紹介でしたが、今日は当社の製品トレーニング関連コンテンツを紹介します。

近年、高圧生体サンプルの測定に対する関心が高まっています。これは、DAC によって実装されたものとは異なる圧力測定のための新しい技術の開発に反映されています。その一つが、結晶を圧力下で凍結させる技術です。

高分解能XRD（人事部-XRD）は、シゲ、AlGaAs、InGaAsなどの化合物半導体の組成と厚さを測定するための一般的な方法です。

X線回折装置（XRD）は粉末X線回折装置と単結晶X線回折装置に分けられますが、両者の基本的な物理原理は同じです。

全反射蛍光 X 線 (TXRF) は、滑らかな表面上の粒子、残留物、不純物を分析するために一般的に使用される表面元素分析手法です。

XRDは、材料のX線回折によってその回折パターンを分析し、材料の組成、材料内部の原子や分子の構造や形状などの情報を得る研究手段です。

斜入射 X 線回折 (GI-XRD) は X 線回折手法の一種で、主に X 線の入射角度とサンプルの方向を変える点で従来の XRD 実験とは異なります。

近年、生体高分子のX線小角散乱技術が広く注目されています。この記事では、近年の生物学的小角と他の技術の組み合わせに関する関連する進歩を主に紹介します。