X 線吸収微細構造 (XAFS) は、放射光光源に基づいて材料の局所的な原子または電子構造を研究するための強力なツールです。

非常に細いX線のビームがナノメートルサイズの不均一な電子密度を持つ物質を通過すると、X線は元のビームの方向に近い小さな角度領域に広がります。この現象は小角X線と呼ばれます- 光線散乱。

小角 X 線散乱は、元のビームに近い小角度範囲における X 線に対する電子の拡散散乱です。小角散乱は、ナノメートルスケールで電子密度が不均一なすべての材料で発生します。

小角 X 線回折 (SAXD) は、主に非常に大きな結晶面の間隔や薄膜の構造を決定するために使用されます。

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X 線を使用して、主に結晶内の X 線回折現象を通じて結晶の構造を研究します。

X 線回折技術は、物質の構造を研究するために使用される分析方法です。結晶内のX線回折の角度を測定することにより、結晶の構造を決定します。

で-現場 XRD (で-現場 X 線回折とも呼ばれる) は、構造または相転移中に X 線回折測定を行う技術です。この技術は、外力による材料の構造の動的変化をリアルタイムにモニタリングすることができます。

で-現場 XRD は、電気化学プロセスにおけるリチウムイオンおよびナトリウムイオン電池システムを研究するために最も人気があり、開発された高度な特性評価手法の 1 つです。

XRD技術はセラミック材料の研究開発において重要な役割を果たします。セラミック材料の合成、調製プロセスの最適化、性能向上、用途の普及に信頼できる科学的根拠を提供します。