一、XRDによる定性分析で得られる情報

1. によるとXRDパターン情報により、サンプルがアモルファスであるか結晶であるかを判断できます。アモルファスサンプルは大きなパケットピークであり、細かいスペクトルピーク構造はありません。結晶は豊富なスペクトル線特性を持っています。サンプルの結晶化度は、サンプル内の最も強いピークの強度を標準物質の強度と比較することによって定性的に知ることができます。

2. 標準スペクトルと比較することにより、サンプルがどの位相で構成されているかを知ることができます (これは、サンプルの最も重要な用途の 1 つです)XRD）。

3. 測定サンプルと標準スペクトル図 2θ 値の差により、結晶セルが膨張するか収縮するかの問題を定性的に分析できます。XRDピークの位置によって結晶セルのサイズと形状が決まります。

二、XRDは定量分析に何を使用できますか?

1. サンプルの平均粒径、基本原理:X線 小さな結晶に入射すると回折線は拡散して幅が広くなり、結晶粒が小さいほどX線回折帯域が広くなります。したがって、結晶粒径とXRDパターンの半値幅との間には一定の関係、すなわちシェレ方程式が存在する。担持触媒表面の金属粒子の粒子径 d (単位 nm) とその分散 D は、d ≈ 0.9/D (注: 0.9 この定数は経験値です) と単純に換算できます。

2. 試料の相対結晶化度：一般に、最も強い回折ピークを積分して得られる面積（として）を結晶化度を計算する指標として用い、標準物質を積分して得られる面積（銀）と比較します。結晶化度 =として/銀*100%。

3. 位相成分の定量分析: 主に、RIR 法とも呼ばれる K 値法とリートベルトのフルスペクトル精度定量化があります。このうちRIR法の基本原理は、物質とコランダム（Al2O3）を1：1で混合したとき、最も強い回折ピークの積分強度が比を持ち、その比がRIR値となるというものです。物質の積分強度 /RIR 値は、常に Al2O3 の積分強度に換算できます。混合物の場合、物質のすべての成分がこの方法で変換され、最終的に正規化によって特定の成分の含有率が得られます。

4。XRD格子定数の精密計算や残留応力計算などにも使用可能