材料科学、半導体製造、バイオメディカルなどの分野では、 X線回折計材料の結晶構造、相組成、格子定数などを評価するための中核機器です。粉末、薄膜、バルク材料、単結晶など、試料の形状が多様であるため、これらの機器の適応性には厳しい要求が課せられます。中国における主要な生産拠点の一つとして、X線回折計、丹東通達シリーズを開発・製造していますX線回折計モジュール設計と精密な光路制御技術を特徴とするこれらの装置により、粉末から薄膜に至るまで、あらゆるサンプルの測定シナリオに対応し、様々な業界における材料研究や品質検査に信頼性の高い技術サポートを提供します。

粉末サンプルの効率的な分析は、丹東通達のX線回折計地質調査や化学材料の研究開発で広く使用されている重要な理由です。粉末試料の場合、このシリーズの装置は、ペレット化やスミアリングなどの従来の調製方法をサポートする専用の粉末試料ホルダーを備えています。試料ホルダーの水平および角度の微調整精度は0.001°に達し、試料表面と入射光路の厳密な平行度を保証します。さらに、高感度検出器と最適化された光学系は、粉末回折からの特徴的なピーク信号を効果的に捉えます。微量ドープされた粉末試料であっても、相組成を正確に識別できます。例えば、リチウム電池の正極材料開発において、研究者はX線回折計リン酸鉄リチウム粉末の結晶純度を迅速に分析し、格子欠陥の程度を評価し、材料性能の最適化のためのデータに基づいたガイダンスを提供します。

薄膜サンプルの精密な特性評価のニーズを満たすために、丹東通達のX線回折計 薄膜材料は一般的に、極めて薄い（ナノメートルからマイクロメートルスケール）、接着力が弱い、基板干渉の影響を受けやすいといった特性があり、従来の回折計では膜と基板の回折信号を効果的に分離することが困難です。この問題を解決するために、 X線回折計斜入射X線回折（GIXRD）技術を採用しています。入射X線を試料表面に非常に小さな角度（0.1°～2°）で照射するように制御することで、基板信号からの干渉を大幅に低減し、薄膜自身の結晶構造を集中的に分析することができます。また、この装置の薄膜サンプルホルダーは、真空吸着または導電性接着剤による固定をサポートしており、試験中に薄膜サンプルがずれるのを防ぎます。これにより、半導体チップコーティング、光学薄膜、フレキシブル電子デバイスなどの分野における検出要件を満たしています。例えば、太陽電池薄膜の研究開発において、この装置はペロブスカイト薄膜の結晶性や配向性を正確に分析し、セルの光電変換効率の向上に貢献します。

粉末や薄膜を超えて、X線回折計モジュール式アクセサリを使用することで、より多くのサンプル形状への適応性をさらに高めることができます。バルクサンプルや単結晶サンプルの場合、専用の単結晶サンプルホルダーを取り付けることで、3次元的な回転と位置決めが可能になります。繊維やナノワイヤなどの1次元材料の場合、装備されたファイバーサンプルホルダーは特定の方向に沿ったアライメントを確保し、配向された回折データを取得します。さらに、これらの装置はin-situ試験機能をサポートしており、高温／低温、高圧などの補助モジュールと組み合わせることで、様々な環境条件下でのサンプル構造の動的モニタリングが可能になり、応用シナリオが広がります。

国内の科学機器の急速な発展を背景に、 丹東通達のX線回折計は、サンプルへの柔軟な適応性と高いコスト効率により、輸入機器の市場独占を打ち破りました。実験室における基礎材料研究から産業生産ラインにおける品質管理まで、多様なサンプル形状に対する精密な分析能力により、材料科学と産業の高度化におけるイノベーションを推進する重要なツールとなっています。