X 線回折技術は、リチウムイオン電池の研究に広く使用されています。XRD は、材料中の相を定性的および定量的に分析するための従来の方法です。

多くの特性評価デバイスの原理は、電子を検出する必要のある物質と相互作用させ、二次電子を励起し、または原子レベルの遷移やバックトリップを行い、特性エネルギーを放出することです。

リチウム電池の需要が拡大し続ける中、その生産基準と安全基準を早急に改善する必要があるため、高解像度、高スループットの 3D 検査システムが不可欠です。

XRD はバルクサンプルと粉末サンプルを測定でき、サンプルのサイズや特性ごとに異なる要件があります。

世界的な X 線回折装置 (XRD) は近年着実に発展しており、中国は大きな発展が見込まれる市場です。

蒸着スケーリングを例として、この論文では定性相分析と定量分析に X 線回折装置を使用する方法を紹介します。

5G、ビッグデータ、人工知能などの新技術や新製品の応用により、半導体市場に巨大な需要がもたらされ、世界の半導体装置支出は上昇サイクルに入っています。

近年、高圧生体サンプルの測定に対する関心が高まっています。これは、DAC によって実装されたものとは異なる圧力測定のための新しい技術の開発に反映されています。その一つが、結晶を圧力下で凍結させる技術です。

高分解能XRD（人事部-XRD）は、シゲ、AlGaAs、InGaAsなどの化合物半導体の組成と厚さを測定するための一般的な方法です。

X線回折装置（XRD）は粉末X線回折装置と単結晶X線回折装置に分けられますが、両者の基本的な物理原理は同じです。

全反射蛍光 X 線 (TXRF) は、滑らかな表面上の粒子、残留物、不純物を分析するために一般的に使用される表面元素分析手法です。

XRDは、材料のX線回折によってその回折パターンを分析し、材料の組成、材料内部の原子や分子の構造や形状などの情報を得る研究手段です。