多機能統合計測アクセサリ

丹東通達科技有限公司が開発した多機能統合測定アクセサリは、広角ゴニオメータ向けに特別に設計された高精度統合モジュールです。多軸リンクとインテリジェント制御により、プレート、バルク材料、基板上の薄膜の包括的な分析を可能にし、相同定、配向分布、集合組織形成、残留応力場、薄膜の面内構造といった主要パラメータの高精度な測定を可能にします。

多機能統合計測アクセサリのコア技術原理と機能的特徴

デュアルモード極点図テスト（透過と反射）

透過法は、透明または薄層サンプル（例：ポリマーフィルム、光学コーティング）に適しています。サンプルを透過する回折信号を検出することで、内部粒子の3D配向情報を取得します。

反射法は、吸収率の高い試料や不透明な試料（例：圧延金属板、セラミック基板）を対象としています。表面回折信号を用いて結晶面配向を分析します。両手法を組み合わせることで、全空間極点図を構築し、組織の種類（例：繊維組織、シート組織）を正確に定量化することができます。

サイ（横傾斜）法とOmega（連結）法による応力試験

オメガ法（結合スキャン）は、検出器と X 線源の対称的な配置を維持するため、表面応力解析に適しています。

Psi法（側面傾斜法）は、試料を傾斜させることで応力勾配と格子歪みを分離する手法です。この方法は、傾斜材料や多層膜における応力分布の詳細な分析に特に適しています。

両方の方法からのデータを組み合わせることで、マクロ的な残留応力（機械加工や熱処理によって生じた応力など）を計算し、耐摩耗性や耐疲労性の評価基準を得ることができます。

薄膜面内構造解析

0°から360°までの連続β軸（面内回転）スキャンを利用して、フィルム面内の粒子の配向をマッピングします。

この機能は、エピタキシャル薄膜および 2 次元材料の格子整合研究用に特別に設計されており、ヘテロ接合インターフェースの方向関係と欠陥密度の分析を可能にします。

精密機械位置決めシステム

多機能統合測定アクセサリの多軸モーション システムは、高精度エンコーダと閉ループ制御を採用し、データの再現性と精度を保証します。

α軸（傾斜）：ダイナミックレンジ：-45°～90°、最小ステップサイズ：0.001°。斜入射から高角回折までの測定をサポートします。

β軸（面内回転）：360°連続回転、ステップサイズ：0.001°。サンプルの死角のない配向スキャンを可能にします。

Z軸（垂直リフト）：移動範囲：0～10mm、最小ステップサイズ：0.001mm。薄いナノコーティングから厚いバルク合金まで、様々な厚さのサンプルに対応します。

サンプルの互換性: 高さ調整が可能で最大 Φ100mm サイズのサンプルをサポートし、シリコン ウェーハからカスタム ワークピースまでさまざまな形状に対応します。

多機能統合計測アクセサリの応用分野

圧延金属板およびその他の金属材料の結晶学的組織（優先配向）の評価。

セラミックスの結晶配向の解析

薄膜サンプルにおける優先結晶配向の評価。

各種金属・セラミック材料の残留応力試験（耐摩耗性、加工性などの特性評価）

多層フィルムの残留応力測定（フィルム剥離の評価など）

高温超伝導材料薄膜、金属板等の表面酸化物層または窒化物層の分析。

ガラス、シリコン (シ)、または金属基板上の多層コーティング (例: 磁性薄膜、表面硬化金属コーティング) の特性評価。

ポリマー、紙、レンズ、その他の基板上にメッキ/コーティングされた材料の分析。

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