X線吸収微細構造(XAFS) は、X 線吸収分光法 (XAS) とも呼ばれます。これは、放射光光源に基づいて材料の局所的な原子または電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒などの注目の分野で広く使用されています。エネルギーとナノ。&注意;
のXAFSスペクトルは、X 線吸収近接構造 (ザネス) と拡張 X 線吸収微細構造 (EXAFS) の 2 つの主要な部分で構成されます。
EXAFS: エネルギー範囲は吸収端の約 50eV ～ 1000eV であり、これは次のとおりです。X線励起
光電子の内層は、周囲の原子と吸収原子の間の単一電子散乱効果から生じます。
ザネス: 吸収端の前約 10eV から吸収端後約 50eV までの範囲、主に
X 線。励起された内殻光電子による周囲原子と吸収原子の間の単一電子の多重散乱。
応用分野:
工業用触媒、エネルギー貯蔵材料、ナノマテリアル、環境毒物学、品質分析、重元素分析など
