材料構造特性評価の重要な手段の 1 つとして、XRD材料、物理学、化学、医学などの分野で広く使用されています。正確な分析結果を取得したり、より多くの構造情報を探索したりするには、X 線回折データの品質が基礎ですが、XRD パターン分析の重要な部分でもあります。&注意;
&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意;図1. の構成XRDパターン
X 線回折パターンのコンポーネントと対応する物理パラメーター:
1. ピーク位置: (1) 正確。(2)宇宙群。(3)セルパラメータ。
2. ピーク強度: (1) 高い強度。(2)結晶構造。(3) 定量分析。
3. ピーク形状: (1)半値幅 が小さく、ピーク形状は対称です (図 2)。(2) 楽器の幅広化。(3) サンプルの微細構造。
4. 背部と底部: (1) 背部と底部が低く、緩やかなローアングル、高いピーク対バック比、高い信号対雑音比。(2)弱いピーク検出限界(図3)。(3) 非晶質の拡散ピーク、"結晶化度"。
&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意;図2 解像度の異なるXRDパターン
&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; 図3 ピークツーバック比と信号対雑音比には弱いピークがあります
X線回折データ品質とテスト効率
1.高品質のデータ取得はテスト効率に反比例することが多く、非常に時間がかかります。精密な機器のデバッグ、合理的なハードウェアの選択、および長いテスト時間。
2.すべてのアプリケーションが非常に高いデータ品質を必要とするわけではありません。対応するデータ品質を取得し、テスト効率を向上させるには、さまざまなアプリケーションのニーズに応じて適切なハードウェアと測定条件を選択する必要があります。