一、多様で高品質なX線回折分析
従来の検出器は、次の場合に 1 つのチャネルを使用してデータを受信します。X線サンプルに当たります。640 チャネルでデータを同時に受信する高度な 1D アレイ検出器。したがって、テスト速度を 10 倍以上向上させることができます。
二、器具の旋削精度
国際標準サンプルのシリカ粉末を測定する場合、全スペクトルのすべてのピークのピーク偏差は±0.01°以下です。フルスペクトル回折角度の精度により、正確な回折角度を保証できます。定性的分析と定量的分析。
3. 優れた解像度
サンプリング時間が 0.1 秒、ステップ幅角度が 0.01°の場合、メイン ピーク 28.442°の半値幅は 0.075°よりも優れており、分解能は 85% 未満です。高解像度により、回折ピークの重なりの問題を解決できます。サンプルの複雑な内容を迅速に取得するには、相分析結果。
