1。XRDパターンで非晶質、準結晶、結晶の構造を厳密に区別するにはどうすればよいですか?
答え：この 3 つの間に厳密に定義された区分はありません。でXRD回折計によって得られたパターン、パターンはいくつかの狭いパターンによって特徴付けられます。"スパイク"これらは通常、互いに独立しています。これらの場合"ピーク"かなり幅が広い場合、サンプル内の結晶の粒径は 300nm 未満であると判断できます。"微結晶"。
&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; アモルファス回折パターンの特徴は、散乱光の強度が緩やかに変化することだけです。X線走査角度範囲全体で観察され、1 つから複数の最大値を持つ可能性があります。初めは、ビームの強度が直接ビームに近いため、角度が増加するにつれて強度は急激に減少し、角度が高いほど強度はゆっくりと機器のバックグラウンド値に近づく傾向があります。
の"まとまりのない"これら 2 つのタイプ間の移行は、"準結晶"州。
2.X線回折を行う場合、銅ターゲットとCrターゲットなど異なるターゲットを使用した場合、2つのスペクトルは同じになりますか?
答え：ターゲットが異なれば、特有の波長も異なります。回折角は実験で使用される波長によって異なります。ブラッグ方程式によれば、間隔 d を持つ結晶面の特定のグループの回折角は異なり、間隔値を持つ結晶面の各グループの回折角は規則的な変化を示します。
&注意; したがって、次のようにして得られる回折パターン上の回折ピークの位置は、X線管異なるターゲットでの回折ピークの位置は同じではなく、回折ピークの位置の変化は規則的です。結晶には、その構造に固有の独自の d 値のセットがあり、結晶物質の特性パラメーターとして使用できます。&注意;&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意;&注意;