X線 回折計 は 主に 用途 位相 定性 および 定量 分析, 結晶 構造 分析, 材料 構造 分析, 結晶 方位 分析, 巨視的 または 微視的 応力 測定, 粒子 サイズ 測定, 結晶度 測定, 等. の 粉末, ブロック または フィルム サンプル。

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