高温加熱中の試料の結晶構造変化、および高温加熱中の各種物質の相互溶解変化を理解する。高温インサイチューアタッチメントは、高温条件下での材料のインサイチュー特性評価に使用される実験装置であり、主に高温加熱中の材料の結晶構造変化、相転移、化学反応などの動的プロセスを研究するために使用されます。以下では、技術パラメータ、適用シナリオ、注意事項の観点から詳細に説明します。 一、現場高温アタッチメントの技術的パラメータ 1. 現場高温アタッチメントの温度範囲 不活性ガス/真空環境：最高温度は1600℃に達します。 標準環境: 室温～1200 ℃ (TD-3500 X線回折 アクセサリに付属)。 2.現場高温アクセサリの温度制御精度：通常は±0.5℃（現場高温アクセサリなど）、1000℃を超える一部の機器の精度は±0.5℃です。 3. 高温現場設置型窓の窓材料と冷却方法 窓材質：X線透過用のポリエステルフィルム（耐熱温度400℃）またはベリリウムシート（厚さ0.1mm）を使用します。 冷却方法：脱イオン水循環冷却により、高温条件下でも装置の安定した動作が保証されます。 4. 現場高温アタッチメントの雰囲気および圧力制御： 不活性ガス（アル、N ₂ など）、真空または大気環境をサポートし、一部のモデルは 10 バー 未満の圧力に耐えることができます。 雰囲気ガス流量を調整可能（0.7〜2.5L/分）で、腐食性ガス環境に適しています。 二、現場高温アタッチメントの応用シナリオ 1. 高温現場設置型接合具に関する材料研究 高温における結晶構造の変化（白金相転移など）や相転移過程（融解や昇華など）を分析します。また、溶解や酸化など、高温における物質の化学反応を研究します。 2. 現場高温アタッチメントの機器適応性 TD-3500、TD-3700などのX線回折計（X線回折）で主に使用されます。カスタマイズされたフランジ接続が必要ですが、走査型電子顕微鏡（SEM）を使用したin-situ引張試験にも使用できます。 三、現場高温アクセサリの使用上の注意 1. 現場高温アタッチメントのサンプル要件 強酸／塩基への分解やセラミック結合を避けるため、対象温度範囲におけるサンプルの化学的安定性を事前に試験する必要があります。サンプルの形状は、アタッチメントの要件（厚さ0.5～4.5mm、直径20mmなど）を満たす必要があります。 2. 高温現場設置型アタッチメントの実験操作手順 過熱による機器の損傷を防ぐため、加熱速度を制御する必要があります（例：100℃で最大200℃/分）。実験後は、構造損傷を防ぐため、サンプルを室温まで冷却する必要があります。

多機能サンプルステージは、主に材料科学、半導体製造、電子顕微鏡分析などの分野で使用される高度に統合された実験装置です。その主な特徴は、モジュール設計、多機能統合、高精度制御です。 一、多機能試料ステージのコア機能と構造特性 1. 多機能サンプルステージのモジュール設計： 自己回転カップリングモジュール（速度 0 ～ 20 回転 / 分、ゼロ制限付き）、リフティングモジュール（標準ストローク 50 んん / 100 んん、カスタマイズ可能）、ヒーターモジュール（最高温度 1100 ℃ まで）などのさまざまなモジュールの組み合わせにより、複数の機能が実現されます。 薄膜成長、サンプル洗浄、補助膜形成などのニーズを満たすために、DC/高周波 電源接続をサポートします。 2. 多機能サンプルステージのための高精度制御とセンサー： 温度、圧力などのセンサーを備え、サンプルの環境パラメータをリアルタイムで監視し、制御システムを通じて加熱、冷却などの操作を調整します。 一部のモデルには、操作を容易にするための空気圧バッフル モジュールが組み込まれています。 3. 多機能サンプルステージの互換性と適応性： 従来の切断や研磨による損傷を回避しながら、微量粉末、シート材料、大型サンプルなどの不規則なサンプルのテストに適します。 6 インチ未満のサンプル サイズとカスタマイズ可能なフランジ インターフェイスをサポートします。 二、多機能サンプルスタンドの応用分野 1. 多機能サンプルステージ用薄膜技術：MBE（分子線エピタキシー）、PLD（パルスレーザー蒸着）、マグネトロンスパッタリングなどの高度な薄膜成長技術、および基板アニール、高温脱ガスなどのプロセスに使用されます。 2. 多機能試料ステージの電子顕微鏡分析： 冷視野走査型電子顕微鏡: 長いネジでサンプルを固定し、互換性のある真鍮ワッシャーで導電率を調整します。 透過型電子顕微鏡/FIB システム: インサイチュー剥離、ナノプローブ テスト、透過型電子顕微鏡 分析を統合し、サンプルの転送による汚染や損傷を回避します。 3. 多機能サンプルステージの故障解析：FIB および 透過型電子顕微鏡 システムに原子サイト剥離、電気テスト、および解析プロセスを統合して、成功率と効率を向上します。 三、多機能サンプルステージの技術的利点 1. 多機能サンプルステージの統合と自動化：モジュール設計により手動操作の複雑さを軽減し、真空環境での全体的な動きと正確な位置決めをサポートします。 2. 多機能サンプルステージの高い信頼性：標準フランジインターフェース（CF50/CF40など）を使用して密閉性と互換性を確保します。 3. 多機能サンプルテーブルのカスタマイズ：加熱材質、ストローク長さ、サンプルホルダータイプ（3爪バヨネットタイプ、ボトムフォークタイプなど）をニーズに応じて選択できます。 多機能試料ステージは、材料研究やミクロ分析における重要な機器であり、X線回折装置で広く使用されています。その価値は、機能統合、操作の柔軟性、そして複雑な実験要件への適応性にあります。具体的な選択は、実際のアプリケーションシナリオ（薄膜技術、電子顕微鏡分析、故障解析など）に応じて、対応するモジュールと性能パラメータを適切に組み合わせる必要があります。

一、オリジナルバッテリーアクセサリのコア機能と応用シナリオ 本来バッテリーアクセサリの機能的な位置付け: 1. 従来の分解によるデータ損失やサンプル汚染を回避するために、バッテリーの充電および放電プロセス中にリアルタイムテスト（X線回折、光学観察など）を実施します。 2.実際のバッテリーの動作環境をシミュレートし、温度制御、電解液の添加、密封保証をサポートします。 元々バッテリーアクセサリの典型的な適用シナリオ: 1.X線回折 インサイチューテスト：充電および放電プロセス中の電極材料（LiFePO4など）の結晶相変化を分析します。 2.光学的その場観察：ベリリウム窓（ポリエステルフィルム）を通して電極の表面反応を観察します。 3.ハイスループットスクリーニング：複数の条件（温度、圧力、電解質）でのバッテリー性能研究をサポートします。 4.炭素、酸素、窒素硫黄、金属埋め込み錯体などを含む電気化学システムに広く使用されます。    二、元々電池アクセサリーの構造構成と材料特性 1.元々バッテリーアクセサリのコアコンポーネント： 下部断熱カバー：主にアルミナセラミックまたはポリテトラフルオロエチレン材料で作られ、設置チャンバーと冷却剤流路を含み、温度制御をサポートします。 上部導電カバー: 貫通穴を備え、下部絶縁カバーにボルトで固定して電流経路を形成します。 下部電極:トッププレートとサポートコラムを含み、バタフライスプリングの圧縮によって固定され、組み立てプロセスが簡素化されます。 ベリリウムウィンドウ（ポリエステルフィルム）：直径 15mm（カスタマイズ可能）、厚さ 0.1mm（カスタマイズ可能）、X 線透過または光学観察に使用されます。 2.元々バッテリー付属品の技術的改良： 正式な組み立て: 従来の反転方式に代わるものであり、操作プロセスを簡素化し、セパレーターと正極材料への圧縮の影響を軽減します。 冷却と加熱：下部断熱カバーには冷媒チャネルまたは抵抗線パイプラインが組み込まれており、-400℃の温度制御をサポートします。 シーリング設計：バタフライスプリングが下部電極を圧縮して固定し、設置シートの空気の流れと連携して吹き飛ばし、霜や氷の形成を防止します。 三、元々バッテリーアクセサリーの技術的利点 1. 元々バッテリー付属の便利な操作： 正式な構造により、グローブ ボックス内の動作時間が短縮され、組み立ての複雑さが軽減されます。 コンポーネントのモジュール設計 (交換可能なベリリウム ウィンドウや断熱スリーブなど) により、メンテナンスの効率が向上します。 2. パフォーマンスパラメータ： 試験範囲：温度範囲0.5～160℃、耐熱温度400℃まで。 シーリング：漏れを防ぐために電解液の長期安定保管をサポートします。 互換性: X 線回折計やその他の機器に適しています。

1、ファイバーアクセサリーの主な機能と用途： X線回折計の繊維付属品：X線回折（透過）法を使用して、繊維の結晶度、半値幅などのデータを分析することにより、サンプルの配向と結晶構造をテストします。 フーリエ変換赤外分光計ファイバーアクセサリ: 顕微鏡、拡散反射、減衰全反射 (ATR) などのアクセサリが含まれ、繊維組成の識別、混合比の決定、単一繊維の分析などに使用されます。たとえば、マイクロ赤外線は単一の 2 成分繊維を識別でき、ATR アタッチメントはサンプルの準備を必要とせずに表面構造の分析に適しています。 2、ファイバーアクセサリーの一般的な種類と特徴： X線回折計専用のアクセサリ：小角回折アクセサリ、平行光薄膜アクセサリ、で-situ高温／中低温アクセサリなど、様々な試験要件に対応します。一部の装置は、自動サンプルチェンジャーや回転サンプルテーブルなどの機能をサポートしており、試験効率を向上させます。 赤外線分光計アクセサリ：透過サンプリングツール（臭化カリウム圧縮装置など）、マイクロ赤外線アクセサリ（単繊維分析用）、拡散反射スキャフォールド（不透明繊維に適しています）、ATRアクセサリ（迅速な非破壊検査用）など。 3、ファイバーアクセサリの典型的な適用シナリオ： 材料研究：天然繊維（綿、麻など）や化学繊維（ポリエステル、アクリルなど）の結晶構造や分子配向を分析します。 工業品質検査：繊維の混紡比率の決定や繊維加工技術の最適化（引張配向モニタリングなど）に使用されます。 研究分野：ポリマーの二色性、繊維の微小領域の伸長配向などの研究 要約すると、ファイバーアクセサリは材料分析と繊維試験に不可欠なツールであり、その開発は機器技術（X線回折、FTIRなど）の進歩とアクセサリ設計の革新に依存しています。具体的な選択は、試験要件（結晶構造、組成同定など）と機器モデルによって異なります。

多機能統合測定アタッチメントは、ボード、ブロック、基板上のフィルムを分析するために使用され、薄膜の結晶相検出、配向、テクスチャ、応力、面内構造などのテストを実行できます。 多機能統合計測アクセサリの機能特性： 透過法または反射法を使用して極線図テストを実行します。 応力テストは、平行傾斜法または同一傾斜法のいずれかを使用して実施できます。 薄膜試験（サンプルの面内回転） 多機能統合計測アクセサリの応用分野： 圧延板などの金属組立構造の評価。 セラミック配向の評価 薄膜サンプルにおける結晶優先配向の評価 各種金属、セラミック材料の残留応力試験（耐摩耗性、耐切削性等の評価） 多層フィルムの残留応力試験（フィルム剥離等の評価） 薄膜や金属板などの高温超伝導材料上の表面酸化膜および窒化膜の分析。 ガラスSi、金属基板上の多層膜（磁性薄膜、金属表面硬化膜など）の分析。 高分子材料、紙、レンズなどの電気めっき材料の分析。 多機能統合計測アクセサリの技術仕様： アルファ軸（傾斜）最小ステップ距離：0.001°/ステップ、ダイナミックレンジ：-45°-90° β軸の最小ステップピッチ（回転）：0.001°/ステップ、ダイナミックレンジ：0°～360° Z軸の最小ステップ距離：0.001°/ステップ、ダイナミックレンジ：0～10mm サンプルサイズ：最大直径100mm、厚さ調整可能

X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気の分野で広く使用されています。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）の基本原理は、X線のエネルギーが試料中の元素の内電子殻のエネルギーと共鳴すると、急激な電子増加が励起され、吸収端と呼ばれる連続スペクトルが形成されるというものである。吸収端付近では、X線エネルギーが増加すると、X線の侵入深さが増すにつれて吸収率が単調に減少する。スペクトルが特定の吸収端を超えて拡張されると、微細構造が観測され、20～30電子ボルトを超える幅のピークとショルダーが吸収端の起点を通過するとすぐに、X線吸収近傍端構造（ザネス）領域が現れる。吸収端の高エネルギー側、エネルギーが数百電子ボルトまで減衰する微細構造をX線吸収微細構造（XAFS）と呼ぶ。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な特徴は次のとおりです。 短距離秩序への感度：短距離秩序に依存し、長距離秩序に依存しないため、幅広いサンプルの測定が可能です。非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心、金属タンパク質などに加え、結晶中の不純物原子の構造研究にも使用できます。 強い元素特性：X線吸収端には元素特性があり、サンプル内の異なる元素の原子については、入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子隣接構造を調べることができます。 高感度: 蛍光法は、100万分の1という低濃度の元素サンプルの測定に使用できます。 構造情報の包括的な取得：吸収原子と隣接原子間の距離、これらの原子の数と種類、吸収元素の酸化状態など、局所構造を決定するパラメータを提供できます。 サンプルの準備は簡単で、単結晶は不要です。また、実験条件下ではデータ収集時間も比較的短くなります。シンクロトロンX線源を使用すれば、スペクトル線の測定には通常数分しかかかりません。 X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) の主な利点は次のとおりです。 コアの利点：最高の光束製品 100万光子/秒/eVを超える光子束、他の製品よりも数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現 優れた安定性： 光源の単色光強度の安定性は0.1％以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。 1%検出限界: 高い光束、優れた光路最適化、および優れた光源安定性により、測定される元素含有量が 1% を超える場合でも、高品質の EXAFS データを取得できます。 4. X線吸収微細構造分光計（XAFS）の応用分野： エネルギー分野：リチウム電池やその他の二次電池材料の研究、燃料電池の研究、水素貯蔵材料の研究など。XAFS は、充放電サイクルおよび電気化学反応中の中心原子の濃度、価数状態、配位環境、および動的変化を取得するために使用できます。 触媒分野：ナノ粒子触媒、単原子触媒などの研究に用いられます。XAFSにより、担体上の触媒の形態、担体との相互作用形態、触媒プロセス中の変化、および極微量の金属イオンの近傍構造を取得します。 材料科学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、さまざまな材料の特性評価、複雑系および無秩序構造材料の研究、放射性同位体の研究、表面および界面材料の関連特性の研究、および材料の動的変化の研究に使用されます。 地質学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は地質学的研究における鉱石材料の元素価数状態の分析に使用できます。 環境分野：XESはCr/As元素などの価数状態分析に使用できます。 放射化学の分野では、X 線吸収微細構造分光計 (XAFS) は、セ、U 元素などの価電子状態分析に使用できます。 X線吸収微細構造分光計（XAFS）は、その独特な動作原理、優れた特性、そして幅広い応用分野により、現代の科学研究において重要な役割を果たしています。物質の微細構造と化学状態をより深く理解するための強力な手段を提供し、複数の学問分野の発展と進歩を促進しています。

NDTポータブルX線溶接試験機の主な目的 国防、造船、石油、化学、機械、航空宇宙、建設などの産業分野における船体、パイプライン、高圧容器、ボイラー、航空機、車両、橋梁などの材料および部品の加工および溶接品質、および各種軽金属、ゴム、セラミックスなどの内部欠陥および固有の品質を検査することです。 NDTポータブルX線溶接試験機の原理と応用： NDTポータブルX線溶接試験機は、材料の音響、光学、磁気、電気特性を利用して、試験対象物の性能に損傷や影響を与えることなく、欠陥や凹凸の存在を検出します。欠陥のサイズ、位置、性質、数量などの情報を提供します。破壊試験と比較して、以下の特徴があります。1つ目は非破壊です。試験中に検出対象物の性能を損なうことはありません。2つ目は包括的です。検出は非破壊であるため、破壊検査では達成できない試験対象物の100％包括的な検出を行う必要があります。3つ目は包括的です。破壊試験は一般的に、機械工学でよく使用される引張、圧縮、曲げなどの原材料の試験にのみ適用されます。破壊試験は製造原材料に対して行われ、完成品や使用中のアイテムについては、継続して使用される予定がない限り、破壊試験を行うことはできません。一方、試験対象物の性能を損なうことはありません。したがって、製造原材料、中間プロセス、さらには最終製品に対する完全なプロセステストを実行できるだけでなく、稼働中の装置のテストも実行できます。 NDTポータブルX線溶接試験機の特徴： X 線発生器は容積が小さく、陽極が接地され、ファンによって強制冷却されます。 ◆ 軽量で持ち運びやすく、操作も簡単です。 仕事と休息の比率は 1:1 です。 美しい外観と合理的な構造。 ◆ オペレータの安全を確保するために暴露を遅らせます。 NDTポータブルX線溶接試験機の目視検査範囲 1. 溶接部の表面欠陥検査。表面割れ、溶け込み不良、溶接継ぎ目の漏れなど、溶接品質を確認します。 2. 状態確認。表面のひび割れ、剥がれ、引っ張り、傷、へこみ、突起、シミ、腐食などの欠陥がないか確認します。 3. 内部空洞検査。ウォームギアポンプ、エンジンなど特定の製品が作動している場合、指定された技術要件に従って内視鏡検査を実施します。 4. 組立検査。必要に応じて、3D工業用ビデオ内視鏡​​を用いて組立品質を検査します。組立または特定の工程が完了した後、各部品を検査します。部品の組立位置が図面または技術仕様の要件を満たしているかどうか、組立不良がないかを確認します。 5. 過剰品検査。製品キャビティ内に残留物、異物、その他の破片がないか確認します。

WBK-01 X線照射装置は、高エネルギーX線を発生させ、細胞や小動物に照射します。X線照射装置は、様々な基礎研究および応用研究に使用されています。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。今日では、より小型で安全、シンプル、低コストのX線照射装置を実験室に設置し、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。様々なサンプルを、生殖能力や安全性に影響を与えることなく、実験室で直接照射することができます。このX線照射装置は、専門的なX線訓練を受けていない人でも簡単に使用でき、高額なライセンス申請や安全対策、放射線源の維持管理費用もかかりません。この装置は操作が簡単で、安全、信頼性が高く、費用対効果が高く、放射性同位元素源の代替として使用できます。 1. X線照射装置の原理： X線照射装置のX線管球は高エネルギー電子を生成し、これが標的物質（通常はタングステン）に衝突することでX線を発生します。高電圧電界を通して電子を加速することで、必要なX線波長と強度を生成するのに十分なエネルギーが得られます。その後、X線は一連のコリメータ、フィルター、その他の装置を通して調整・最適化され、最終的に試料に照射されます。 X 線照射装置の主な構成要素は次のとおりです。 X線照射装置は、主にX線管、高電圧発生装置、制御回路、冷却システム、安全保護装置、試料室などから構成されています。このうち、X線管はX線の発生を担う中核部品です。高電圧発生装置はX線管に必要な高電圧と高電流を供給します。制御回路はX線の発生、強度、照射時間などのパラメータを制御します。冷却システムは、運転中の過熱による機器の損傷を防ぎます。安全保護装置は、作業者の安全と使用環境を確保します。 3. X線照射装置の応用分野： X線照射装置は生物学分野で使用でき、細胞培養や分裂阻害研究、遺伝子変化誘導、幹細胞研究、小動物照射、結核細胞研究、血液細胞研究、骨髄移植照射、移植免疫、免疫抑制療法、放射線感受性研究、DNA損傷研究などに使用できます。 X線照射装置は医療分野でも利用されています。腫瘍治療では、腫瘍部位を局所的に照射し、がん細胞を死滅させたり、その成長を抑制したりするために使用できます。また、X線照射装置は、X線による組織や臓器の画像変化を観察して病状の判定に役立てるなど、特定の病気の補助診断としても使用できます。 X線照射装置は食品業界で使用できます。食品の照射保存に使用でき、X線照射により食品内の微生物を殺し、酵素の活性を抑制し、食品本来の味と栄養成分を維持しながら食品の保存期間を延ばします。 X線照射装置は産業分野で使用することができ、ポリマー材料の強度と安定性を向上させるための架橋処理など、材料の性能試験や改質に使用できます。また、材料内部の欠陥や亀裂を検出するための非破壊検査にも使用できます。 要約すると、X線照射装置は、幅広い応用の可能性と価値を持つ重要な科学的および産業的装置です。

X線結晶配向装置は、結晶デバイスの精密加工・製造に不可欠な装置です。X線結晶配向装置は、X線回折の原理を利用し、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定します。また、上記の結晶を方向性切断するための切断機も備えています。X線結晶配向装置は、結晶材料の研究、加工、製造業界で広く利用されています。 1. X線結晶配向装置の原理： X線結晶配向装置は、X線回折の原理を利用して、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定します。切断機を装備したX線結晶配向装置は、上記の結晶の方向性切断に使用でき、結晶デバイスの精密加工および製造に不可欠な機器です。X線結晶配向装置は、測定精度±30インチ、デジタル表示モード、10インチの小さい読み取り値を備えています。直径1〜30キログラム、2〜8インチのサンプルを測定できます。角度表示：デジタルモード、測定精度±30インチ。 2. X線結晶配向装置の特徴： 操作は簡単で、専門知識や熟練した技能は必要ありません。デジタル角度表示は視認性が高く、読み取り誤差を低減します。モニターは任意の位置でゼロ点調整が可能で、チップ角度の偏差値を簡単に表示できます。デュアル角度測定器は同時動作が可能で、効率が向上します。X線結晶配向器には、ピーク増幅機能を備えた特殊な積分器が搭載されており、検出精度が向上しています。X線管球と高電圧ケーブルを一体化することで、高電圧の信頼性が向上しています。高電圧検出器には、DC高電圧モジュールと真空吸引サンプルボードを採用し、角度測定の精度と速度を向上させています。 X 線結晶配向装置の主なコンポーネントは次のとおりです。 放射管: 通常は銅ターゲットを陽極として接地し、冷却には強制空冷を採用します。 高電圧電源：X線管に安定した高電圧と高電流を供給し、システム全体の中核コンポーネントの1つです。 検出器: 回折された X 線光子を受信し、それを電気信号に変換して、その後の処理および分析に使用します。 ゴニオメーター: 結晶サンプルの回転角度を正確に測定し、回折面の方向情報を決定するために使用されます。 データ処理システム: 検出器から出力された信号を処理、分析、保存し、結晶構造に関する情報を取得します。 4. X線結晶配向装置の応用分野： 材料科学: 金属、セラミック、半導体などのさまざまな材料の結晶構造を研究するために使用されます。 地質学: 鉱物の種類の識別、岩石構造の分析などに使用されます。 化学：分子結晶の構造と変化を研究するために使用されます。 物理学: 物質の微細構造と物理的特性を調査するために使用されます。 要約すると、科学技術の継続的な進歩と革新により、X線結晶配向装置では、将来的にさまざまな分野でより多くの新しい材料と技術が応用され、人類社会の継続的な発展が促進されると考えられます。

TDFシリーズX線結晶分析装置は、物質の内部微細構造を研究するための大型分析装置です。主に単結晶方位、欠陥検査、格子定数の測定、残留応力の測定、板状および棒状の構造研究、未知物質の構造研究、単結晶転位の研究などに用いられます。X線結晶分析装置は、X線回折の原理を用いて物質の内部構造と組成を分析・決定する精密機器です。 1. X線結晶分析装置の動作原理： X線結晶分析装置は、ブラッグの法則に基づいています。ブラッグの法則とは、X線を結晶に照射すると特定の角度で回折が起こり、回折斑点またはピークが形成されるというものです。これらの回折の角度と強度を測定することで、結晶の内部構造と組成を推測することができます。 2. X線結晶分析装置の構成： （１）Ｘ線結晶分析装置のＸ線源：Ｘ線を発生する装置で、通常はＸ線管で、フィラメント、ターゲット物質および高電圧電源から構成される。 X線結晶分析装置のX線管： 定格電力：2.4KW; 焦点サイズ（平方ミリメートル）：点焦点（1×1）、線焦点（1×10） ターゲット材質：銅、共同、鉄、Cr、モ、Wなど X線結晶分析装置の高電圧発生器（輸入PLCで制御）： 管電圧：10〜60KV; 管電流：2〜60mA; 管電圧および管電流の安定性≤±0.005%; 定格出力：3KW。 X線結晶分析装置用高電圧ケーブル: 誘電電圧 ≥ 100KV; 長さ: 2M。 （２）X線結晶分析装置の分光結晶：異なる波長のX線を分離するために使用され、スペクトル分離を実現するための重要な部品です。 （３）Ｘ線結晶分析装置の検出器：試料によって散乱されたＸ線を検出し、それを電気信号に変換して後続の処理に用いる。 （４）Ｘ線結晶分析装置の角度測定器：回折角を精密に測定するために使用される機器であり、測定精度を確保するための重要な構成部品の一つである。 (5) X線結晶分析装置の制御・データ処理システム：分析プロセス全体の制御、収集されたデータの処理・分析に使用されます。現代の装置には通常、データ分析プロセスを簡素化するためのコンピュータソフトウェアが搭載されています。 3. X線結晶分析装置の特徴： TDF シリーズ X 線結晶分析装置は垂直チューブスリーブを採用しており、 4 つのウィンドウを同時に使用できます。 TDFシリーズX線結晶分析装置は、輸入PLC制御技術を採用し、高い制御精度と優れた耐干渉性能を備え、システムの信頼性の高い運用を実現します。PLCは高電圧スイッチの開閉を制御し、X線管の自動調整機能も備えているため、X線管と装置の寿命を効果的に延ばします。 4. X線結晶分析装置の応用分野 材料科学：材料の結晶構造、相転移、欠陥などを研究し、新材料の開発に重要なサポートを提供します。 化学：結晶化学、医薬品化学などに関連し、化合物の構造を分析したり、化学反応のメカニズムを研究したりするために使用できます。 生物学：生体分子の構造解析、薬物の設計とスクリーニングなどに使用され、生命プロセスと疾患メカニズムを理解する上で非常に重要です。 環境科学は、触媒の開発、ナノ材料の特性評価、汚染物質の分析において重要な役割を果たします。 地質学：鉱物の同定、岩石の成因研究、地質年代学などの研究分野でも、X線結晶分析装置が活用されています。X線結晶分析装置は強力で広く使用されている分析装置であり、様々な分野で不可欠な役割を果たしています。技術の継続的な進歩と市場の継続的な発展により、その性能と応用範囲はさらに向上し、拡大していくでしょう。