ポリマーの従来のX線回折

従来の X 線は、ポリマーの結晶化度や材料の同等性情報を特徴付けるためによく使用されます。の結晶化度ポリマーの物理的特性と密接に関係する構造パラメーターです。結晶化度を評価することで、剛性不足、亀裂、白色度、その他の欠陥の原因を特定できる場合があります。結晶化度の測定方法は、X線回折フルスペクトルフィッティングについて説明し、いくつかの例を示します。

&注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; &注意; 結晶回折ピーク面積と全散乱信号面積の比

PP-PPのXRDパターンとフルスペクトルフィッティング法による結晶ピークと非晶質ピークの分離による結晶化度の計算結果

ポリマー2D/X線回折

ポリマー材料の場合、繊維、シート、またはその他の形状に加えられます。加工方法や加工技術の違いにより、結晶状態や配向性が大きく異なります。従来の X 線回折試験では、すべての構造的特徴を特徴付けることはできません。2D 検出器 (XRD) 透過モードは、ポリマー材料に関する直感的かつ包括的な構造情報を提供します。以下では、さまざまな状態の PP サンプルを 2 次元でテストしました。X線回折装置、ポリマー分析における二次元回折の利点を十分に実証しました。

PP サンプルの 2 次元 X 線マップ PP1# - アモルファス状態 PP2# - 無配向半結晶状態

配向解析

PP3# サンプルの (040) ピークは、2 次元マップの 2 方向にのみ存在します。試料の(040)ピークを2θで積分することで、(040)ピーク強度の方位角図が得られ、方位角図のピークの半高さと幅を用いてさらに配向性を計算することができます。