丹東通達XAFS分光計：実験室向け材料構造解析ツール

シンクロトロン放射源に依存せずに原子物質構造を正確に分析します。

X線吸収微細構造（XAFS）分光法は、物質の局所的な原子構造と電子構造を調査するための重要な技術として機能し、触媒、エネルギー研究、材料科学の分野で幅広く応用されています。

従来の XAFS 法は主にシンクロトロン放射源に依存しており、ビームの利用可能性が限られている、適用手順が複雑である、分析のためにサンプルを大規模な科学施設に輸送する必要があるなどの課題があります。X線吸収微細構造丹東 トンダ テクノロジー 共同., 株式会社. が開発したこのシステムは、高度な分析機能を標準的な実験室環境に統合することを目的としています。

コアとなる利点と実用的価値

この機器の設計は、研究者が直面するいくつかの重要な課題に対処します。

1. シンクロトロン放射に代わる実験室ベースの代替手段: 従来のシンクロトロン放射源への依存を排除​​し、研究者が自身の研究室環境内で日常的な XAFS テストを効率的に実行できるようにすることで、研究の生産性を大幅に向上させます。

1. 現場試験能力: さまざまな で-現場 サンプルチャンバー (電気化学、温度可変など) の統合をサポートし、シミュレートされた動作条件 (触媒反応やバッテリーの充電/放電プロセスなど) 下での材料の局所原子構造の動的な変化をリアルタイムで監視できるため、反応メカニズムに関する貴重な洞察が得られます。

2. 効率向上のための自動操作18 ポジションのサンプル タレットにより、自動サンプル交換が可能になり、複数のサンプルの連続自動測定と無人操作が容易になり、バッチ サンプル スクリーニングと拡張された で-現場 実験が効率化されます。

幅広い応用範囲

TD-XAFS 分光計は、材料の局所構造の詳細な調査を必要とするさまざまな分野で応用されています。

• 新エネルギー材料充放電プロセス中のリチウムイオン電池電極材料の価電子状態の変化と構造安定性の分析、燃料電池の触媒活性部位における配位環境の調査。

• 触媒科学: 金属負荷量が低い場合（<1%）でも、ナノ触媒および単一原子触媒の正確な配位構造、活性部位の特性、および支持材料との相互作用を研究するのに特に適しています。

• 材料科学無秩序構造、非晶質材料、表面/界面効果、動的相転移プロセスの調査。

• 環境科学環境サンプル（土壌、水など）中の重金属元素の原子価状態と配位構造の分析。毒性と移動性を評価するために重要です。

• 生物学的高分子: 金属タンパク質および酵素中の金属活性中心の電子構造と幾何学的構成の研究。

まとめ

丹東通達のTD-XAFS分光計は、大学、研究機関、企業の研究開発センター向けに設計された高性能な国産ベンチトップ試験プラットフォームです。シンクロトロンレベルの機能を従来の研究室に統合することで、XAFS技術へのアクセス障壁を大幅に低減します。本装置は、研究者に微視的物質構造解析のための便利で効率的かつ柔軟なツールを提供し、物質の微視的世界を探求する科学者にとって実用的なソリューションとなります。