材料研究開発の効率化を強力にサポート

X線結晶配向装置は、X線回折の原理に基づいて動作します。高圧トランスによって生成された高電圧がX線管に作用し、X線が発生します。X線がサンプルに照射されると、ブラッグ回折条件（nλ=2dsinθ）が満たされると回折が発生します。このうち、λはX線の波長、dは結晶内の原子面の間隔、θは入射X線と結晶面の間の角度です。回折線は計数管によって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されます。モノクロメーターを使用する場合、回折線は単色化されてからカウンターによって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されるため、測定精度が向上します。 X線結晶配向装置は、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定することができ、上記結晶の方向性切断用の切断機を備えています。X線結晶配向装置は、結晶デバイスの精密加工および製造に不可欠な機器です。X線結晶配向装置は、結晶材料の研究、加工、製造業界で広く使用されています。 X線結晶配向装置は操作が簡単で、専門知識や熟練した技術を必要とせず、角度をデジタルで表示し、観察しやすく、読み取りエラーを減らします。X線結晶配向装置の表示は任意の位置でゼロにできるため、チップ角度の偏差値を簡単に表示できます。デュアル角度測定装置は同時に動作できるため、効率が向上します。X線結晶配向装置には、ピーク増幅機能を備えた特殊な積分器があり、検出精度が向上しています。X線管と高電圧ケーブルの統合により、高電圧の信頼性が向上します。検出器の高電圧は、DC高電圧モジュールと真空吸引サンプルボードを採用しており、角度測定の精度と速度が向上しています。 全体として、X 線結晶配向装置は、X 線回折の原理に基づいた精密機器であり、結晶の切断角度を正確に測定することにより、結晶材料の研究および関連アプリケーションに重要な技術的サポートを提供します。

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