1.TDFシリーズX線結晶分析装置

機能と用途: このシリーズの装置は主に材料の内部微細構造の研究に使用され、単結晶の配向、欠陥検査、格子パラメータの決定、残留応力解析、板/棒構造の研究、未知の材料構造解析、単結晶転位解析に適しています。

技術的特徴: 大型分析機器である TDF シリーズは、高精度 X 線回折技術を統合しており、微細構造の詳細な分析が可能で、材料科学、半導体製造、結晶処理などの分野での研究と品質管理をサポートします。

そのTDFシリーズX線結晶分析装置垂直チューブスリーブを採用し、4つのウィンドウを同時に使用できます。

そのTDFシリーズX線結晶分析装置輸入PLC制御技術を採用し、高い制御精度と優れた耐干渉性能を備え、システムの信頼性の高い運用を実現します。PLCは高電圧スイッチの開閉を制御し、X線管の自動調整機能も備えているため、X線管と機器の寿命を効果的に延ばします。

2. X線結晶配向装置

機能と応用：X線回折の原理を利用することで、天然または人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶など）の切断角度を迅速かつ正確に測定できます。切断機と組み合わせることで、方向性のある切断が可能になります。結晶材料の研究、加工、製造業界で広く使用されています。

技術的利点：従来の放射性同位元素照射技術に代わるものとして、実験室で高精度の方向分析を直接完了できるため、結晶処理の効率と精度が向上します。