X 線照射装置は、高エネルギー X 線を発生させて対象物や生物組織に照射します。X 線の発生は、通常、加速された電子が金属ターゲット (タングステン、銅など) に衝突して制動放射線を発生させ、X 線ビームを形成し、細胞や小動物に照射することによって実現されます。X 線照射装置は、さまざまな基礎研究や応用研究に使用されます。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。しかし、今日では、より小型で安全、シンプル、低コストの X 線照射装置を実験室に設置して、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。さまざまなサンプルを、生殖能力や安全性に影響を与えることなく、実験室で直接照射することができます。X 線照射装置は、専門的な X 線のトレーニングを受けていない人でも使用でき、高価なライセンス申請や安全性や放射線源のメンテナンス費用もかかりません。 X 線照射装置は操作が簡単で、安全で信頼性が高く、コスト効率に優れており、放射性同位元素源を置き換えることができます。 1. X線照射装置の主な応用分野には、医療分野、科学研究分野などが含まれます。 2. X線照射装置の安全上の注意事項： 放射線防護: 作業者は、X 線への長時間の被曝を避けるために防護服を着用する必要があります。 機器のメンテナンス: 機器が正常に動作していることを確認し、放射線漏れを防ぐために定期的に検査します。 線量管理：サンプルや人体への不必要な害を避けるために、照射線量を厳密に管理します。

X線結晶配向装置は、X線回折の原理に基づいて動作します。高圧トランスによって生成された高電圧がX線管に作用し、X線が発生します。X線がサンプルに照射されると、ブラッグ回折条件（nλ=2dsinθ）が満たされると回折が発生します。このうち、λはX線の波長、dは結晶内の原子面の間隔、θは入射X線と結晶面の間の角度です。回折線は計数管によって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されます。モノクロメーターを使用する場合、回折線は単色化されてからカウンターによって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されるため、測定精度が向上します。 X線結晶配向装置は、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定することができ、上記結晶の方向性切断用の切断機を備えています。X線結晶配向装置は、結晶デバイスの精密加工および製造に不可欠な機器です。X線結晶配向装置は、結晶材料の研究、加工、製造業界で広く使用されています。 X線結晶配向装置は操作が簡単で、専門知識や熟練した技術を必要とせず、角度をデジタルで表示し、観察しやすく、読み取りエラーを減らします。X線結晶配向装置の表示は任意の位置でゼロにできるため、チップ角度の偏差値を簡単に表示できます。デュアル角度測定装置は同時に動作できるため、効率が向上します。X線結晶配向装置には、ピーク増幅機能を備えた特殊な積分器があり、検出精度が向上しています。X線管と高電圧ケーブルの統合により、高電圧の信頼性が向上します。検出器の高電圧は、DC高電圧モジュールと真空吸引サンプルボードを採用しており、角度測定の精度と速度が向上しています。 全体として、X 線結晶配向装置は、X 線回折の原理に基づいた精密機器であり、結晶の切断角度を正確に測定することにより、結晶材料の研究および関連アプリケーションに重要な技術的サポートを提供します。

TDF シリーズ X 線結晶分析装置は、材料の内部微細構造を研究するために使用される大型分析装置および X 線装置です。主に単結晶方位、欠陥検査、格子定数の決定、残留応力の決定、板および棒の構造の研究、未知物質の構造の研究、および単結晶転位に使用されます。

X 線照射装置は、高エネルギー X 線を生成して細胞や小動物に照射することができます。さまざまな基礎研究や応用研究に使用されます。歴史的には、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がある放射性同位元素照射装置が使用されていました。今日では、より小型で安全、シンプル、低コストの X 線照射装置を研究室に設置して、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。

TDF シリーズ X 線結晶分析装置は、物質の内部微細構造を研究するために使用される大型分析装置です。主に単結晶方位、欠陥検査、格子定数の決定、残留応力の決定、板および棒の構造の研究、未知物質の構造の研究、単結晶転位に使用されます。

キャビネット型X線照射装置は、細胞や小動物に照射するために使用されます。X線照射装置は、特定の生物学的または物理的効果を達成するために、高エネルギーX線を使用して物質を照射する機器です。さまざまな基礎研究と応用研究に使用されます。歴史を通じて、放射性同位元素照射装置が使用されてきましたが、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。今日では、より小さく、より安全で、よりシンプルで、より低コストのX線照射装置を研究室に設置して、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。現代のX線照射装置には、安全な操作を確保するために、緊急停止装置、過熱保護、自動予熱機能などの包括的な安全保護対策が装備されています。

TDF シリーズ X 線結晶分析装置は、物質の内部微細構造を研究するために使用される大規模な分析 X 線装置です。主に、単結晶の配向、欠陥検査、格子定数の決定、残留応力の決定、板および棒の構造の研究、未知の物質の構造の研究、および単結晶の転位に使用されます。 TDF シリーズ X 線結晶分析装置は垂直チューブスリーブを採用しており、4 つのウィンドウを同時に使用できます。 TDFシリーズX線結晶分析装置は輸入PLC制御技術を採用しており、高い制御精度と優れた耐干渉性能を備えており、システムの信頼性の高い動作を実現できます。PLCは高電圧スイッチを制御し、昇降し、X線管を自動的にトレーニングする機能を備えており、X線管とX線機器の耐用年数を効果的に延ばします。

NDTポータブルX線溶接試験機は、X線を生成でき、さまざまな用途がある放射線検査装置の一種です。溶接検査用のポータブルX線装置は、産業および医療分野で使用できます。業界では、自動車部品製造における欠陥検出、ホイールハブ検出、サブフレーム検出、ヒンジ品質検出などに使用され、テストされた工業製品に高い強度があることを確認します。また、X線溶接検査装置に属し、溶接検出、ボイラー溶接検出、航空宇宙部品の溶接検出などによく使用されます。

TDF シリーズ X 線結晶分析装置は、物質の内部微細構造を研究するために使用される大型 X 線装置です。X 線と結晶の相互作用の原理を利用し、X 線の回折パターンを分析することで結晶内の原子配列を決定します。主に単結晶の配向、欠陥検査、格子定数の決定、残留応力の決定、板および棒の構造の研究、未知の物質の構造および単結晶の転位の調査に使用されます。 X 線結晶分析装置は、X 線機器として、材料科学研究やその他の関連分野に貴重な情報を提供します。技術の継続的な進歩とアプリケーションの拡大により、X 線結晶分析装置は科学研究と工業生産において重要な役割を果たし続けるでしょう。

自動X線配向装置は、X線の回折原理を利用して結晶構造、配向、格子定数を決定する装置です。材料科学、地質学、物理学、化学、特に単結晶、多結晶材料、薄膜材料の微細構造と特性の研究において、幅広い用途があります。以下では、X線結晶配向装置の動作原理、用途、および操作上の注意事項について詳しく紹介します。 技術の進歩に伴い、自動X線配向計器は解像度が高くなり、操作が簡単になりました。同時に、電子顕微鏡や分光分析などの他の分析技術と組み合わせることで、結晶構造の分析がより包括的かつ詳細になります。さらに、ポータブルでオンライン監視可能なX線配向分析装置が徐々に開発され、現場での分析とリアルタイム監視の可能性が提供されています。 要約すると、X 線配向分析装置は、材料の微細構造を理解し、制御するために不可欠な強力な分析ツールです。技術の継続的な発展により、さまざまな分野でのその応用はより広範囲かつ深くなります。

キャビネット型X線照射システムは、高エネルギーX線を発生させて細胞や小動物に照射します。さまざまな基礎研究や応用研究に使用されます。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。今日では、より小型で安全で、よりシンプルで低コストのX線照射装置を実験室に設置して、細胞の便利で迅速な照射を行うことができます。さまざまなサンプルを実験室で直接照射することができ、生殖能力や安全性に影響を与えません。この生物学的X線照射装置は、専門的なX線の訓練を受けていない人でも使いやすく、安全性や放射線源のための高価なライセンス申請やメンテナンス費用もかかりません。X線照射装置は操作が簡単で、安全で信頼性が高く、費用対効果が高く、放射性同位元素源を置き換えることができます。

X線配向分析装置は、X線回折の原理を利用して結晶の配向を決定する装置です。材料科学、地質学、物理学などの分野で結晶構造、格子定数、結晶欠陥などの研究に広く使用されています。 X 線配向分析装置の動作原理は、単色 X 線ビームをテスト対象の結晶に照射することです。X 線が結晶内の原子と相互作用すると、散乱が発生します。ブラッグの法則によると、X 線の波長が結晶内の原子間隔の整数倍である場合、散乱光が干渉して、ブラッグ反射と呼ばれる一連の明るい縞と暗い縞が交互に現れます。これらのブラッグ反射の角度と強度を測定することで、結晶の配向や格子パラメータなどの情報を計算できます。 X 線配向分析装置には通常、次の主要部分が含まれます。 1.X 線源: 通常は X 線管またはシンクロトロン放射源を使用して単色 X 線を生成する装置。 2.サンプルステージ：テストする結晶を置くためのプラットフォームで、結晶の位置と角度を調整できます。 3. 検出器: 散乱したX線を受信し、電気信号に変換するために使用されます。一般的な検出器には、シンチレーションカウンタ、比例カウンタなどがあります。 4.データ収集および処理システム：検出器から出力される信号を収集し、データの処理と分析を実行するために使用されます。通常、マルチチャンネルアナライザー、コンピューター、およびその他の機器が含まれます。 5.制御システム：X線源、サンプルステージ、検出器の動きを制御し、さまざまな方向の結晶の測定を実現します。 X線配向分析装置を使用することで、研究者は結晶の配向と格子定数を正確に決定し、結晶の構造と特性をより深く理解することができ、新材料の開発、地質調査、結晶成長などの分野において大きな意義を持ちます。