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X線 単 結晶 回折計 は 主に 三次元 空間 構造 および 電子 雲 密度 の 結晶 物質 など を 決定するために 使用されます 無機, 有機, and 金属 錯体, and to 分析 構造 の 特殊 材料 など 双晶, 非 対応 結晶, 準結晶% 2c など を決定 正確 三次元 空間 (含む 結合 長さ, 結合 角度, 配置, 構造, および 偶数 結合 電子 密度) の 新しい 化合物 (結晶) 分子 および 実際の 配列 分子 中 格子; それ できる 情報 を 結晶 セル パラメータ, スペース グループ% 2c 結晶 分子 構造, 分子間 水素 結合 および 弱い 相互作用, as well as 構造 情報 など 分子 配置 および 立体構造。 広く 使用されています 分析 研究 化学 結晶学, 分子 生物学, 薬理学, 鉱物学, および 材料 科学。
プロパティが 2 次元効果によって支配されるマテリアル。2 次元スケールでのマテリアルのプロパティは、より大きなスケールでのプロパティとは異なります。
マイクロct技術はセラミックスの特性評価において大きな利点があり、損傷することなく材料内部の複合構造を明らかにし、セラミック製造の主要な技術を復元することができます。
革新的キラル医薬品の指導原則では、「キラル医薬品の分子配置を決定する直接的な方法は、単結晶X線構造解析である」と明確に規定されている。
医薬品開発および製造の後期段階で広く使用されている粉末XRDとは異なり、単結晶X線回折技術は医薬品開発の初期および中期段階で重要な役割を果たします。