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-3700高解像度X線回折計はTDシリーズの新製品で、高速1次元アレイ検出器、2次元検出器、SDD検出器などのさまざまな高性能検出器を搭載しており、高速分析、便利な操作、ユーザーの安全性を兼ね備えています。モジュール式ハードウェアアーキテクチャとカスタマイズされたソフトウェアシステムは完璧な組み合わせを実現し、故障率が非常に低く、耐干渉性能が良好で、高電圧電源の長期にわたる安定した動作を保証します。 -3700高解像度X線回折計は、従来の回折データスキャン法だけでなく、透過データスキャン法もサポートしています。透過モードの解像度は回折モードよりもはるかに高く、構造解析などの分野に適しています。回折モードは回折信号が強く、実験室での日常的な相同定に適しています。また、透過モードでは粉末サンプルを微量にすることができるため、サンプルサイズが比較的小さく、サンプル調製のための回折法の要件を満たしていない場合のデータ取得に適しています。 アレイ検出器は、混合光子計数技術をフル活用しており、ノイズがなく、データ取得が高速で、シンチレーション検出器の 10 倍以上の速度です。優れたエネルギー分解能を持ち、蛍光効果を効果的に除去できます。マルチチャンネル検出器は、読み出し時間が速く、信号対雑音比が向上します。電子ゲーティングと外部トリガーを備えた検出器制御システムにより、システム同期が効果的に完了します。 -3700高解像度X線回折計の動作原理： X線の揺らぎを利用して、結晶にX線を照射すると、結晶中の原子やイオンが散乱中心となり、X線をあらゆる方向に散乱させます。結晶中の原子配列の規則性により、散乱波は互いに干渉し、特定の方向に強め合うことで回折現象が発生します。回折角や回折強度を測定することで、結晶の構造情報を得ることができます。 -3700高解像度X線回折計の主な特徴は次のとおりです。 （１）操作が簡単なワンクリック収集システム。 （２）モジュール設計、プラグアンドプレイの機器アクセサリ、校正の必要がない。 （３）タッチスクリーンを使用して機器の状態を表示するリアルタイムオンラインモニタリング。 （4）電子リードドアインターロック装置、二重保護、使用者の安全を確保します。 （５）安定した信頼性の高い性能を備えた高周波・高電圧X線発生装置。 （6）強力な耐干渉能力を備えた高度な録音制御ユニット。 -3700高解像度X線回折計の高精度により、格子定数、セルパラメータなどの正確な決定など、材料の結晶構造の高精度分析が可能になります。角度測定精度は±0.0001°に達します。 -3700高解像度X線回折計の高解像度により、隣接する回折ピークを明確に区別し、複雑な結晶構造の異なる結晶面の回折情報を正確に分析し、材料の微細構造特性を明らかにすることができます。 -3700 高解像度 X 線回折計は非破壊的な性質を持っているため、テスト プロセス中にサンプルに損傷を与えることなく、サンプルを元の状態のまま複数回のテストに使用できます。これは、貴重なサンプルや入手が困難なサンプルにとって特に重要です。 -3700高解像度X線回折計の迅速な分析：現代の高解像度X線回折計は検出能力が速く、短時間でサンプルテストを完了できるため、作業効率が向上します。 3. -3700高解像度X線回折計の応用分野： 半導体材料：半導体単結晶材料やエピタキシャル薄膜の結晶品質を検出し、格子不整合、欠陥などの情報を分析して、半導体デバイスの性能を最適化するために使用されます。 超伝導材料: 超伝導材料の結晶構造と相転移プロセスを研究し、超伝導特性を最適化するための基礎を提供します。 ナノ材料: ナノ材料の粒径、結晶構造、微視的歪みなどを分析することで、研究者はナノ材料の特性と用途をより深く理解できるようになります。 その他の分野: 金属材料、セラミック材料、ポリマー材料、生体材料などの研究や品質管理にも広く使用されています。高解像度X線回折計は、高精度、高解像度、非破壊、高速の分析機器であり、多くの分野で重要な応用価値があります。

1. 単結晶回折計の機能： TD-5000 X線単結晶回折計は、主に無機、有機、金属錯体などの結晶性物質の3次元空間構造と電子雲密度を決定し、双晶、非整合結晶、準結晶などの特殊材料の構造を分析するために使用されます。新しい化合物（結晶）分子の正確な3次元空間（結合長、結合角、構成、コンフォメーション、さらには結合電子密度を含む）と格子内の分子の実際の配置を決定します。X線単結晶回折計は、結晶セルパラメータ、空間群、結晶分子構造、分子間水素結合、弱い相互作用に関する情報、および分子構成やコンフォメーションなどの構造情報を提供できます。X線単結晶回折計は、化学結晶学、分子生物学、薬理学、鉱物学、材料科学などの分析研究に広く使用されています。 X線単結晶回折計は、中国科学技術部の国家重点科学機器・設備開発プロジェクトが資金提供し、丹東通達科技有限公司が主導するハイテク製品であり、中国における単結晶回折計の開発と生産のギャップを埋めるものです。 2. 単結晶回折計の特徴： 機械全体はプログラマブルロジックコントローラ（ＰＬＣ）制御技術を採用しており、操作が簡単で、ワンクリック収集システムです。 モジュラー設計、プラグアンドプレイアクセサリ、キャリブレーション不要、タッチスクリーンによるリアルタイムオンライン監視、機器の状態表示。 安定した信頼性の高い性能を備えた高出力X線発生器。電子リードドア連動装置、二重保護。 3. 単結晶回折計の精度： 2θ角度繰り返し精度：0.0001°、最小ステップ角度：0.0001°、温度制御範囲：100K-300K、制御精度：±0.3K 4. 単結晶回折計で使用される角度測定器： 4 つの同心円技術を使用すると、角度測定器の中心が回転に関係なく変化しないことが保証され、最も正確なデータを取得し、より高い完全性を得るという目標が達成されます。4 つの同心円は、従来の単結晶回折計のスキャンに必要な条件です。 5. X線単結晶回折計に使用される高速2次元検出器： この検出器は、単一光子計数と混合ピクセル技術の主要技術を組み合わせて、低消費電力と低冷却を確保しながら最高のデータ品質を実現します。シンクロトロン放射や従来の実験室光源などのさまざまな分野に適用され、読み出しノイズと暗電流の干渉を効果的に排除します。混合ピクセル技術は、X線を直接検出し、信号を区別しやすくし、高品質のデータを効率的に提供できます。 6. X線単結晶回折計で使用される低温装置： 低温装置で収集されたデータは、より理想的な結果をもたらします。低温装置の助けを借りて、望ましくない結晶が理想的な結果を得ることを可能にするだけでなく、理想的な結晶がより理想的な結果を得ることを可能にするより有利な条件を提供することができます。 温度制御範囲：100K〜300K、制御精度：±0.3K、液体窒素消費量：1.1〜2リットル/時間、 7. オプションアクセサリ、多層フィルムフォーカスレンズ： X線管出力：30Wまたは50Wなど、発散角：0.5～1mrad。 X線管ターゲット材質：モ/Cuターゲット、焦点：0.5〜2mm。

X 線吸収微細構造スペクトル (ゼフス) は、物質の局所的な原子構造または電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの一般的な分野で広く使用されています。 X線吸収微細構造スペクトル(ゼフス)の原理: X線吸収微細構造スペクトルとは、X線を吸収する原子核電子の特性端付近の高解像度スペクトルを指します。X線のエネルギーが測定対象元素の内殻電子の励起エネルギーと同じ場合、それらは強く吸収され、吸収限界（または吸収端）が生じます。吸収端付近では、多重散乱などにより、X線の吸収係数が振動現象、つまり微細構造を示します。 2. X線吸収微細構造スペクトル(ゼフス)の主な利点: （１）光子束が100万光子/秒/eVを超え、スペクトル効率が他の製品より数倍高い、最高の光束製品。シンクロトロン放射と同等のデータ品質が得られる。 （２）優れた安定性、光源の単色光強度安定性は0.1％以上、繰り返しエネルギードリフトは50meV以下 （３）１％の検出限界、高い光束、優れた光路最適化、優れた光源安定性により、測定元素含有量が１％を超える場合でも、高品質のEXAFSデータが得られます。 3. XAFSの応用分野： 工業触媒、エネルギー貯蔵材料、ナノ材料、環境毒性学、定性分析、重元素分析など。 4. XAFSの主な特徴: （１）短距離秩序：EXAFSは短距離相互作用に依存し、長距離秩序には依存しません。XAFSは、非晶質、液体、溶融体、触媒活性中心などの無秩序系の構造を研究するために使用できます。 （２）元素特異性：蛍光法は、百万分の一の濃度の元素サンプルを測定するのに使用できます。入射X線エネルギーを調整することで、同じ化合物内の異なる元素の原子の隣接構造を調べることができます。 （３）偏光特性：偏光X線は配向サンプルの原子結合角や表面構造を測定するために使用できる。 X 線吸収微細構造スペクトルは、その独自の原理、重要な特性、および幅広い応用分野により、材料科学、触媒化学、エネルギー研究などの複数の分野で不可欠かつ重要なツールとなり、材料の微細構造と電子状態の詳細な調査を強力にサポートしています。

X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、サンプル位置の正確な調整と固定に使用される重要なコンポーネントです。サンプルは自身の平面内で回転できるため、粗い粒子によって生じる誤差を軽減できます。テクスチャと結晶構造を持つサンプルの場合、回転サンプル ホルダーにより、回折強度の再現性が確保され、優先配向が排除されます。 回転サンプルホルダーの動作原理: X 線回折計が作動すると、X 線源によって生成された高エネルギー X 線が、回転するサンプル ステージ上に固定されたサンプルに照射されます。サンプルの特定の結晶構造と格子定数により、X 線はサンプルと相互作用する際に散乱、吸収、回折現象を起こし、ブラッグ方程式の要件に従って回折現象が発生します。 回転サンプルホルダーは設定に応じてより小さな角度で回転することができ、サンプルは異なる角度でX線照射を受けることができ、それによって異なる角度での回折パターンを得ることができます。このようにして、検出器はサンプル回折後のX線強度を測定し、それを電気信号に変換してコンピュータに送信し、データ処理することができます。 回転サンプルホルダーの主な機能は次のとおりです。 回転方法: β軸(サンプル面) 回転速度: 1~60RPM 小さなステップ幅: 0.1 º 動作モード: サンプルスキャン用の定速回転(ステップ、連続) 回転サンプルホルダーの利点: 回転サンプルホルダーは回折データの精度を向上できます。粉末や粒子の形状が不規則なサンプルの場合、従来の粉末サンプルの準備中に優先配向の特性が発生しやすく、回折強度の分布に偏差が生じ、回折結果の分析精度に影響します。サンプルステージを回転すると、適切な空間内でサンプルを一定の形で移動できるため、優先配向の影響をある程度排除でき、回折データの精度が向上します。 回転サンプルホルダーは、さまざまなテストニーズに適応できます。垂直角度測定器、低電力コンパクト粉末回折装置など、さまざまな種類のX線回折角度測定器に適応でき、さまざまなテストニーズに便利です。また、回転サンプルホルダーは、速度やステアリングなどのパラメータを調整することで、さまざまなサンプルとテスト条件の要件を満たすことができます。 回転サンプルホルダーは、機器の分析機能を拡張できます。新しいタイプの回転サンプルステージが絶えず開発され、適用されています。たとえば、さまざまな環境や条件での材料の変化をリアルタイムで監視および分析できる で 場所 電気化学 X 線回折分析用のサンプルステージなどです。これにより、X 線回折装置の分析機能が拡張されます。 要約すると、X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、物質の結晶構造情報を正確に取得するために不可欠です。回転サンプル ホルダーは、回折データの精度を向上させるだけでなく、さまざまなテストのニーズに適応し、機器の分析機能を拡張することもできます。

X 線回折計では、多機能統合測定アクセサリが、機器の機能性と柔軟性を大幅に向上させる重要なコンポーネントです。ボード、ブロック、基板上のフィルムの分析に使用され、結晶相検出、配向、テクスチャ、応力、薄膜の面内構造などのテストを実行できます。 多機能統合計測アクセサリの基本概要: 定義: 機器の機能を拡張し、測定の精度と効率を向上させるために、X 線回折計で使用される一連の追加デバイスまたはモジュールの総称です。 目的: これらのアタッチメントは、X 線回折計がより幅広い実験ニーズを満たし、より包括的で正確な材料構造情報を提供できるようにすることを目指しています。 多機能統合計測アクセサリの機能特性: 透過法または反射法を使用して極図テストを実行します。 ストレステストは、平行傾斜法または同一傾斜法のいずれかを使用して実施できます。 薄膜試験（サンプルの面内回転）。 多機能統合計測アクセサリの技術的特徴: 高精度: 通常、高度なセンシング技術と制御システムを使用して、測定の高精度と再現性を保証します。 自動化: 多くのアタッチメントが自動操作をサポートしており、X 線回折計ホストとシームレスに統合してワンクリック測定を実現できます。 モジュラー設計: ユーザーは実際のニーズに応じてさまざまなアクセサリ モジュールを選択して組み合わせることができます。 多機能統合計測アクセサリの応用分野: 材料科学、物理学、化学、生物学、地質学などの分野で広く使用されています。 圧延板などの金属組立構造の評価。 セラミック配向の評価 薄膜サンプルにおける結晶優先配向の評価。 各種金属・セラミック材料の残留応力試験（耐摩耗性、耐切削性等の評価） 多層フィルムの残留応力試験（フィルム剥離等の評価） 薄膜や金属板などの高温超伝導材料の表面酸化膜や窒化膜の分析。 ガラスSi、金属基板上の多層膜（磁性薄膜、金属表面硬化膜など）の解析。 高分子材料、紙、レンズなどの電気めっき材料の分析。 X線回折計の多機能統合測定アクセサリは、機器の性能を向上させる鍵です。機器の機能を強化するだけでなく、測定の精度と効率も向上し、研究者により包括的で詳細な材料分析方法を提供します。技術の継続的な進歩に伴い、これらのアタッチメントは、関連分野の科学研究を促進し、さらなる進歩を達成する上で重要な役割を果たし続けます。

X 線照射装置は、高エネルギー X 線を発生させて対象物や生物組織に照射します。X 線の発生は、通常、加速された電子が金属ターゲット (タングステン、銅など) に衝突して制動放射線を発生させ、X 線ビームを形成し、細胞や小動物に照射することによって実現されます。X 線照射装置は、さまざまな基礎研究や応用研究に使用されます。歴史的には、放射性同位元素照射装置が使用されており、サンプルをコア照射施設に輸送する必要がありました。しかし、今日では、より小型で安全、シンプル、低コストの X 線照射装置を実験室に設置して、細胞を便利かつ迅速に照射することができます。さまざまなサンプルを、生殖能力や安全性に影響を与えることなく、実験室で直接照射することができます。X 線照射装置は、専門的な X 線のトレーニングを受けていない人でも使用でき、高価なライセンス申請や安全性や放射線源のメンテナンス費用もかかりません。 X 線照射装置は操作が簡単で、安全で信頼性が高く、コスト効率に優れており、放射性同位元素源を置き換えることができます。 1. X線照射装置の主な応用分野には、医療分野、科学研究分野などが含まれます。 2. X線照射装置の安全上の注意事項： 放射線防護: 作業者は、X 線への長時間の被曝を避けるために防護服を着用する必要があります。 機器のメンテナンス: 機器が正常に動作していることを確認し、放射線漏れを防ぐために定期的に検査します。 線量管理：サンプルや人体への不必要な害を避けるために、照射線量を厳密に管理します。

NDTポータブルX線溶接試験機の原理と応用： NDTポータブルX線溶接試験機は、材料の音響、光学、磁気、電気特性を利用して、試験対象物の性能に損傷や影響を与えることなく、欠陥や凹凸の存在を検出するものです。欠陥のサイズ、位置、性質、数量に関する情報を提供します。破壊試験と比較して、非破壊試験には次の特徴があります。1つ目は非破壊であり、試験中に検出対象物の性能を損なうことはありません。2つ目は包括的であり、検出は非破壊であるため、破壊検出では達成できない試験対象物の100％包括的な検出を行う必要があります。3つ目は包括的であり、破壊試験は通常、機械工学でよく使用される引張、圧縮、曲げなどの原材料の試験にのみ適用されます。破壊試験は製造原材料に対して行われ、完成品や使用中のアイテムについては、継続して使用する予定がない限り、破壊試験を行うことはできません。一方、非破壊検査では、検査対象物の性能を損なうことはありません。そのため、製造原材料、中間プロセス、最終製品までの全工程検査を実行できるだけでなく、稼働中の機器の検査も実行できます。 NDTポータブルX線溶接試験機の特徴： X 線発生器は容積が小さく、陽極が接地され、ファンによって強制冷却されます。 ◆ 軽量で持ち運びやすく、操作も簡単です。 仕事と休息の比率は 1:1 です。 美しい外観と合理的な構造。 ◆ オペレータの安全を確保するために暴露を遅らせる。 NDTポータブルX線溶接試験機の主な目的： この装置の主な目的は、国防、造船、石油、化学、機械、航空宇宙、建設などの産業分野における船体、パイプライン、高圧容器、ボイラー、航空機、車両、橋梁などの材料および部品の加工および溶接品質、ならびに各種軽金属、ゴム、セラミックスなどの内部欠陥および固有の品質を検査することです。

X線結晶配向装置は、X線回折の原理に基づいて動作します。高圧トランスによって生成された高電圧がX線管に作用し、X線が発生します。X線がサンプルに照射されると、ブラッグ回折条件（nλ=2dsinθ）が満たされると回折が発生します。このうち、λはX線の波長、dは結晶内の原子面の間隔、θは入射X線と結晶面の間の角度です。回折線は計数管によって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されます。モノクロメーターを使用する場合、回折線は単色化されてからカウンターによって受信され、増幅器のマイクロアンペアメーターに表示されるため、測定精度が向上します。 X線結晶配向装置は、天然および人工の単結晶（圧電結晶、光学結晶、レーザー結晶、半導体結晶）の切断角度を正確かつ迅速に決定することができ、上記結晶の方向性切断用の切断機を備えています。X線結晶配向装置は、結晶デバイスの精密加工および製造に不可欠な機器です。X線結晶配向装置は、結晶材料の研究、加工、製造業界で広く使用されています。 X線結晶配向装置は操作が簡単で、専門知識や熟練した技術を必要とせず、角度をデジタルで表示し、観察しやすく、読み取りエラーを減らします。X線結晶配向装置の表示は任意の位置でゼロにできるため、チップ角度の偏差値を簡単に表示できます。デュアル角度測定装置は同時に動作できるため、効率が向上します。X線結晶配向装置には、ピーク増幅機能を備えた特殊な積分器があり、検出精度が向上しています。X線管と高電圧ケーブルの統合により、高電圧の信頼性が向上します。検出器の高電圧は、DC高電圧モジュールと真空吸引サンプルボードを採用しており、角度測定の精度と速度が向上しています。 全体として、X 線結晶配向装置は、X 線回折の原理に基づいた精密機器であり、結晶の切断角度を正確に測定することにより、結晶材料の研究および関連アプリケーションに重要な技術的サポートを提供します。

タイムスタンプ-20 ベン​​チトップ X 線回折計は、新しい高性能アレイ検出器を使用しており、この検出器の搭載により、機械全体のパフォーマンスが大幅に向上しました。 タイムスタンプ-20 ベン​​チトップ X線回折 は、主に粉末、固体、および同様のペースト状材料の相分析に使用されます。 タイムスタンプ-20 ベン​​チトップ X 線回折計は、X 線回折の原理を利用して、粉末サンプルや金属サンプルなどの多結晶材料の定性または定量分析、結晶構造分析を実行します。 ベンチトップ X線回折 は、工業、農業、国防、医薬品、鉱物、食品安全、石油、教育、科学研究などの業界で広く使用されています。

TD-3700高解像度X線回折計には、高速1次元アレイ検出器、2次元検出器、SDD検出器などのさまざまな高性能検出器が搭載されています。TD-3700 X線回折計は、高速分析、便利な操作、ユーザーの安全性を統合しています。モジュール式のハードウェアアーキテクチャとカスタマイズされたソフトウェアシステムは完璧な組み合わせを実現し、故障率が非常に低く、耐干渉性能が良好で、高電圧電源の長期にわたる安定した動作を保証します。TD-3700 X線回折計は、回折計算強度を数十倍以上に高め、より短いサンプリング周期で完全な高感度、高解像度の回折パターンとより高い計数強度を取得し、透過データスキャンもサポートします。透過モードの解像度は回折モードの解像度よりもはるかに高く、構造解析などの分野に適しています。回折モードは回折信号が強く、実験室での日常的な相同定に適しています。