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X 線吸収微細構造分光計は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気分野で広く使用されています。 XAFS コアの利点: 最高光束製品: 1000000光子/秒/eVを超える光子束、他の製品より数倍高いスペクトル効率、シンクロトロン放射と同等のデータ品質を実現 優れた安定性： 光源の単色光強度の安定性は0.1%以上であり、繰り返し収集中のエネルギードリフトは50 meV未満である。 1%検出限界: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

X線回折（透過）法を使用して、繊維の独特な結晶構造を検査します。繊維組織や半値幅などのデータに基づいてサンプルの配向をテストします。

低温装置を通じて収集されたデータは、より理想的な結果をもたらします。低温装置の助けを借りて、より有利な条件を提供することができ、望ましくない結晶が理想的な結果を得ることができるようになり、理想的な結晶がより理想的な結果を得ることができるようになります。

θ - θ 構造では、サンプルは静止したまま、放射線源と検出器が回転します。 輸入高精度ベアリング伝動装置を採用し、安定性が良好です。 高精度完全閉ループベクトル駆動サーボシステム制御、 自動エラー訂正用の 32 ビット RISC マイクロプロセッサと高解像度磁気エンコーダを搭載。

θ - θ 構造, the サンプル 残留物 静止 その間 the 放射線 線源 and 検出器 回転; 採用 輸入 高精度 ベアリング トランスミッション, 付き 良好 安定性; 高 精度 フル クローズドループ ベクトル ドライブ サーボ システム 制御, 32 ビット RISC マイクロプロセッサ および 高解像度 磁気 エンコーダー 自動 エラー 修正; を含む

イオン液体（IL）BMIMAc によって改質されたペロブスカイト膜の結晶構造を、さまざまなアニール時間で X 線回折によって特性評価しました。

バッテリー材料の分析は、バッテリーの性能を理解して最適化し、バッテリーの安全性と寿命を向上させ、コストを削減し、新材料の開発と応用を促進するのに役立ちます。

X線吸収分光法は、放射光X線の入射前後の信号変化を利用して、物質の元素組成や電子状態を分析する分光手法です。

ゼフ は、材料の局所構造解析のための高度な特性評価手法として、X 線結晶回折よりも短距離構造範囲でより正確な原子構造配位情報を提供できます。