news

繊維アクセサリは、X 線回折 (透過) 法を使用して、独自の結晶構造についてテストされます。繊維の結晶度と繊維の半ピーク幅に基づいてサンプルの配向をテストします。このタイプのアクセサリは通常、広角回折計に取り付けられ、主に基板上の薄膜のテクスチャの研究、結晶相検出、配向、応力テスト、およびその他のテストを実行するために使用されます。

X線検出器の前にグラファイト曲面結晶モノクロメータを設置し、受光スリットを通過したX線を単色化し、X線スペクトルのKα特性のみを検出します。この装置を使用することで、連続X線、Kβ特性X線、蛍光X線を完全に除去でき、信号対雑音比の高いX線回折分析が可能になります。銅ターゲットX線管を対応するモノクロメータと組み合わせて使用​​すると、ミネソタ、鉄、共同、Niベースのサンプルから発生する蛍光X線を除去できるため、さまざまなサンプルの分析に適しています。

多機能統合測定アクセサリは、複数のパラメータを測定できる機器アクセサリです。X線回折計の測定アクセサリであり、主に測定効率の向上、測定機能の向上、機器のメンテナンスの改善に使用されます。化学工学、機械、地質学、鉱物、冶金、建築材料、セラミック、石油化学、医薬品などの分野でさまざまな材料の分析とテストに使用されます。多機能統合測定アクセサリは、さまざまな分野で重要な役割を果たし、科学研究と工業生産を強力にサポートします。

小角回折計アクセサリは、主に材料のナノスケールパラメータを測定するための、X線回折装置で使用される重要なアクセサリです。対応するアクセサリは小角回折用に構成でき、0°～5°の角度範囲を使用してナノ多層膜の厚さテストを行うことができます。材料のナノスケールパラメータを測定することにより、材料科学、生物学、化学などの分野の研究に強力なツールが提供されています。

タイムスタンプ-20 X線回折計は、主に粉末、固体、および同様のペースト状材料の相分析に使用されます。X線回折計は、定性分析または定量分析、結晶構造分析、および粉末サンプルや金属サンプルなどの他の多結晶材料に使用できます。X線回折計は、工業、農業、国防、医薬品、鉱物、食品安全、石油、教育、科学研究などの業界で広く使用されています。 ベンチトップ X線回折 は、材料の結晶構造を分析するために使用される実験装置です。ベンチトップ X線回折 は、X 線を放射し、サンプルとの相互作用後の回折角と強度を測定することで、材料の結晶構造、格子定数、および相構成を決定します。

X線回折計は主に、粉末、ブロック、またはフィルムサンプルの相定性および定量分析、結晶構造分析、材料構造分析、結晶方位分析、マクロまたはミクロの応力測定、粒径測定、結晶度測定などに使用されます。丹東通達科技有限公司が製造するTD-3500 X線回折計は、輸入されたシーメンスPLC制御を採用しており、高精度、高精度、優れた安定性、長寿命、アップグレードが簡単、操作が簡単、インテリジェントなどの特徴を備えており、さまざまな業界のテスト分析と研究に柔軟に適応できます。材料科学、化学、物理学、地質学などの分野で広く使用されている強力な分析ツールです。

TD-3700 X線回折計はTDシリーズの新製品で、高速1次元アレイ検出器、2次元検出器、SDD検出器などのさまざまな高性能検出器を搭載しています。高速分析、便利な操作、ユーザーの安全性を統合しています。モジュール式ハードウェアアーキテクチャとカスタマイズされたソフトウェアシステムは完璧な組み合わせを実現し、故障率が非常に低く、耐干渉性能が良好で、高電圧電源の長期にわたる安定した動作を保証します。 TD-3700 X 線粉末回折計は、従来の回折データ スキャン方式と透過データ スキャン方式の両方をサポートします。 TD-3700 X線粉末回折計は、TD-3500 X線回折計のすべての利点を備え、高性能検出器を搭載しています。シンチレーション検出器や比例検出器と比較して、回折計算強度を数十倍に高めることができ、より短いサンプリング期間で完全な高感度、高解像度の回折パターンとより高い計数強度を得ることができます。

X 線単結晶回折計は、主に無機、有機、金属錯体などの結晶性物質の 3 次元空間構造と電子雲密度を決定し、双晶、非整合結晶、準結晶などの特殊材料の構造を分析するために使用されます。新しい化合物 (結晶) 分子の正確な 3 次元空間 (結合長、結合角、配置、コンフォメーション、さらには結合電子密度を含む) と格子内の分子の実際の配置を決定します。単結晶 X 線回折計は、結晶セル パラメーター、空間群、分子構造、分子間水素結合、弱い相互作用に関する情報、および分子配置やコンフォメーションなどの構造情報を提供できます。単結晶 X線回折 は、化学結晶学、分子生物学、薬理学、鉱物学、材料科学の分析研究で広く使用されています。 単結晶XRDは高精度です。 2θ角度繰り返し精度：0.0001° 最小ステップ角度: 0.0001°; 温度制御範囲:100K-300K 制御精度: ±0.3K 単結晶角度測定器は、4 つの同心円状の走査円を選択します。 単結晶XRDは低温構成を採用しています。 同社の技術者は海外の単結晶X線回折計の設置とデバッグを完了し、テスト結果は海外のユーザーに大いに満足し、同時に、機器の機能性、安定性、アフターサービスも海外のユーザーから満場一致で賞賛されました。 全体として、X 線単結晶回折計は、複数の分野の研究と応用において重要な科学機器としてかけがえのない役割を果たしています。技術の継続的な進歩と革新により、将来的には単結晶 X線回折 がより多くの分野で独自の価値と可能性を発揮すると信じています。

グラファイト曲面結晶モノクロメータは、X線回折分析の重要な機器アクセサリであり、主に受信スリットを通過するX線を単色化し、分析の精度と信号対雑音比を向上させるために使用されます。このモノクロメータは、グラファイト結晶の特定の構造を利用して入射X線を選択的に反射し、特定の波長のX線（通常はKα特性X線）のみを通過させ、連続X線、Kβ特性X線、蛍光X線などの他の不要なX線成分をフィルタリングします。この選択反射は、入射光と結晶面の間の角度が特定の条件を満たすと、コヒーレント散乱が発生し、回折ピークが形成されるというブラッグの法則に基づいています。このモノクロメータを使用する場合は、回折ピークの精度と対称性を確保するために、サンプルの準備と配置に注意を払う必要があります。 グラファイト曲面結晶モノクロメータは、化学、化学工学、機械、地質学、鉱物、冶金、建築材料、セラミック、石油化学、医薬品などの材料研究分野で広く使用されています。これらの分野では、結晶構造、相転移、応力状態などの材料の物理的特性を研究するためのX線回折分析に使用されます。X線回折計アクセサリは、ピーク対バックグラウンド比を高め、バックグラウンドノイズを低減することで、分析の精度と信頼性を大幅に向上させます。

多機能統合測定アクセサリは、ボード、ブロック、基板上のフィルムを分析するために使用され、結晶相検出、配向、テクスチャ、応力、薄膜の面内構造などのテストを実行できます。多機能統合測定アクセサリは通常、X線回折計の機能を強化するように設計されており、より多様なテストニーズに適応できます。多機能統合測定アクセサリとX線回折計には密接な関係があります。これらのアクセサリは、X線回折計の機能と性能を強化するだけでなく、操作性と安全性も向上させます。実際のアプリケーションでは、ユーザーは特定のニーズに応じて適切なアクセサリを選択して、X線回折計のアプリケーションシナリオを拡大し、測定効率を向上させることができます。