小角X線散乱 (サックス) は、サンプルを通過する X 線によって生成される散乱信号を収集し、1 ～ 100 nm の範囲でサンプルの構造情報を調べる技術です。

例:ナノ粒子の形状とサイズは物理的および化学的特性に影響を与えるため、ナノ粒子の形状とサイズをより正確に分析し、ナノ粒子をより効果的に利用するには、より多くの分析を採用する必要があります。統計学的に重要な サックステクノロジー。まず、TEM を使用してナノ粒子の形態とサイズの予備分析を行い、次にさまざまなナノ粒子分散液の サックス データを収集し、さまざまな形状係数 (立方体、球体など) でデータを分析することによってさまざまな P 値を取得しました。 、スーパーボール）。ｐ＝１の場合、ナノ粒子は球形であり、ｐ＝１の場合、ナノ粒子は立方体である。適合した P 値を図 2(a) に示します。

イチジク。2 (a) 4 つの異なる形状のナノ粒子の TEM 画像、および (b) サックス データとフィッティング結果。